Mit dem NI PXIe-4190 messen und testen Sie Induktivität, Kapazität und Widerstand (LCR) elektronischer Geräte. Das Modul umfasst ein LCR-Messgerät mit Kapazitätsmessungen der fF-Klasse und eine Präzisions-SMU (Source Measure Unit) mit Strommessungen der fA-Klasse. Das PXIe-4190 Meter kann in automatisierten Prüfsystemen (CV/IV) für Halbleiteranwendungen verwendet werden, darunter IPD (Integrated Passive Device), MEMs (Mikroelektromechanische Systeme), Multi-Layer Keramikkondensatoren (MLCC) und parametrische Tests. Darüber hinaus wird das National Instruments PXIe-4190 vom NI DCPower-Gerätetreiber unterstützt, der APIs für LabVIEW, C, C# .NET, Python und andere Programmiersprachen enthält.