Zur Startseite gehen

#statusMessage#

Möchten Sie den Produktvergleich starten?

Hinweis
Wählen Sie mindestens ein Produkt über die Funktion “Vergleichen” aus, um den Produktvergleich zu aktivieren.

Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

Produkte filtern
502 Produkte
PZ2100A
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
CS-8200
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
NGU201
Bundle
7.800,00 €
Lieferzeit auf Anfrage
2450
7.580,00 €
Nachbestellt - im Zulauf. Lieferzeit auf Anfrage
TRX-1100V-CONN
131,00 €
4 auf Lager. Versandfertig in 1 Arbeitstag
4200A-SCS
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
CS-8500
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
CS-8020
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
Sparen Sie mit Sonderposten

Entdecken Sie hier unsere Sonderposten - Lagerabverkäufe & Vorführgeräte - Geprüft und mit Garantie

B2902B
Auf Anfrage
1 auf Lager. Versandfertig in 1 Arbeitstag
2470
13.600,00 €
Nachbestellt - im Zulauf. Lieferzeit auf Anfrage
934-068-101
7,25 €
Lieferzeit auf Anfrage
4200-SMU
10.800,00 €
Lieferzeit auf Anfrage
10834A
54,04 €
3 auf Lager. Versandfertig in 1 Arbeitstag
B2910BL
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
934-068-100
7,25 €
Lieferzeit auf Anfrage
934-095-100
8,25 €
Lieferzeit auf Anfrage
2606B
35.600,00 €
Lieferzeit auf Anfrage
2510-AT
12.100,00 €
Lieferzeit auf Anfrage
2520.
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage

Wafer-Probestation

Probing-Lösungen für schnelle Wafer-Tests.

2401
6.080,00 €
Nachbestellt - im Zulauf. Lieferzeit auf Anfrage
2510.
10.300,00 €
Lieferzeit auf Anfrage