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Flexible Automotive-Testlösungen mit PXI.

Automatisierte Prüfsysteme in Rekordzeit entwickeln.

Testingenieure für HF-Hochleistungskomponenten werden mit straffen Zeitplänen für die Einführung neuer Produktlösungen konfrontiert. Sie müssen umfangreichen Testanforderungen für eine Vielzahl zu prüfender Designvarianten und Revisionen gerecht werden und ggf. hohe Testdurchsätze erzielen. Die manuelle Konfiguration und Durchführung von Verifizierungstests kann die Produktentwicklung verzögern. Der PXI-Standard für die Testautomatisierung von NI verkürzt die Charakterisierungszeit und steigert Ihre Produktivität signifikant.

Ein funktionales PXI-Testsystem besteht aus integrierter Hard- und Software. Es führt alle elektrischen und HF-Messungen durch und stellt Datenanalysen sowie -dokumentationen zur Verfügung, um zu verifizieren, ob Ihr Produkt gemäß vordefinierter Spezifikation hergestellt wurde. Die modulare, skalierbare Testarchitektur lässt sich einfach konfigurieren und warten. Sie kann für unterschiedliche Komponenten während der gesamten Produktentwicklung sowohl für neue als auch vorhandene Testprogramme flexibel angepasst werden.

Entwicklungs- und Anwendungssoftware von NI, z. B. LabVIEW und TestStand, bildet das Rückgrat einer automatisierten Charakterisierungsumgebung (ACE) mit PXI. Sie schafft eine durchgängige PXI-Plattform und ermöglicht die Strukturierung und Wiederverwendbarkeit von Testabläufen. Tests und ACE-Bibliotheken lassen sich global verwalten. Die Bibliotheken umfassen den Zugriff auf die Messinstrumente der Hardware-Plattform sowie Mess- und Analysefunktionen für unterschiedlichste Prüflinge. Die Testumgebung enthält zudem ein konfigurierbares System zur automatischen Berichterstellung.

PXI bietet die ideale Systemarchitektur für die Entwicklung eines standardisierten Prüfsystems mit konfigurierbaren I/O-Steckplätzen sowie Timing- und Synchronisationsfunktionen, die Sie für anspruchsvolle Elektronik benötigen. Bus-, Funk-, Navigations-, Audio-, Konnektivitäts-, Mobilfunktests etc. lassen sich mit Schleifenraten im Mikrosekundenbereich in automatisierten, wiederholbaren Testsequenzen durchführen. Die modulare PXI-Testarchitektur ermöglicht es Ihnen, die Mess- und Steuerfunktionen mit einer großen Auswahl an Modulen flexibel zu erweitern.

  • Schnelle Ausführung neuer Testszenarien mit Timing- und Streaming-Funktionen für die Datenaufzeichnung/-wiedergabe und Fehlerinjektion
  • Breites Spektrum an Messgeräten, seriellen Hochgeschwindigkeits- Multiplexern, Messmodulen etc. für flexible Testkonfigurationen
  • Ideal für Leistungselektronik durch Synchronisationsfunktionen im Mikrosekunden-Bereich, breite I/O-Unterstützung, 6-GB/s-Datenraten und FPGA-Signalverarbeitung
  • All-in-One-Lösung für die Simulation von Kommunikationsbussen, Messungen, Steuerung von Fremdgeräten einschließlich Schalter, Relais usw.

Vorteile der PXI-Prüfplattform:

  • Herausragende Messgenauigkeit und Wiederholbarkeit für optimale Produktqualität
  • Branchenweit größte Messgeräte-Auswahl zur vollständigen Testabdeckung
  • Anwendungs- und Entwicklungssoftware für signifikant verkürzte Entwicklungszeiten
  • Robuste Hardware für langlebige Produktionslinien ohne Neuzertifizierung
  • Integrierte automatische Testparallelität und FPGA-Signalverarbeitung für Multi-Up-Testarchitekturen mit hohen Durchsätzen
  • Einfache Software-Integration für die Testautomatisierung, Datenanalyse und Verwaltung von Unternehmensdaten
  • Vollständige Dokumentation für vereinfachte Zertifizierungsprozesse

PXI-Anwendungsbeispiele:

  • Infotainment-, Telematik- und V2X-Test
  • Leistungsvalidierung von Halbleitern
  • Designverifizierung für Halbleiterchips
  • Test der Wireless-Konnektivität und IoT-Funktionsprüfung
  • Akustik- und Audiofunktionstest für sprachgesteuerte Elektronikprodukte
  • Test von Batteriezellen


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