#statusMessage#
Möchten Sie den Produktvergleich starten?
Automatisierte Prüfsysteme in Rekordzeit entwickeln.
Testingenieure für HF-Hochleistungskomponenten werden mit straffen Zeitplänen für die Einführung neuer Produktlösungen konfrontiert. Sie müssen umfangreichen Testanforderungen für eine Vielzahl zu prüfender Designvarianten und Revisionen gerecht werden und ggf. hohe Testdurchsätze erzielen. Die manuelle Konfiguration und Durchführung von Verifizierungstests kann die Produktentwicklung verzögern. Der PXI-Standard für die Testautomatisierung von NI verkürzt die Charakterisierungszeit und steigert Ihre Produktivität signifikant.
Ein funktionales PXI-Testsystem besteht aus integrierter Hard- und Software. Es führt alle elektrischen und HF-Messungen durch und stellt Datenanalysen sowie -dokumentationen zur Verfügung, um zu verifizieren, ob Ihr Produkt gemäß vordefinierter Spezifikation hergestellt wurde. Die modulare, skalierbare Testarchitektur lässt sich einfach konfigurieren und warten. Sie kann für unterschiedliche Komponenten während der gesamten Produktentwicklung sowohl für neue als auch vorhandene Testprogramme flexibel angepasst werden.
Entwicklungs- und Anwendungssoftware von NI, z. B. LabVIEW und TestStand, bildet das Rückgrat einer automatisierten Charakterisierungsumgebung (ACE) mit PXI. Sie schafft eine durchgängige PXI-Plattform und ermöglicht die Strukturierung und Wiederverwendbarkeit von Testabläufen. Tests und ACE-Bibliotheken lassen sich global verwalten. Die Bibliotheken umfassen den Zugriff auf die Messinstrumente der Hardware-Plattform sowie Mess- und Analysefunktionen für unterschiedlichste Prüflinge. Die Testumgebung enthält zudem ein konfigurierbares System zur automatischen Berichterstellung.
PXI bietet die ideale Systemarchitektur für die Entwicklung eines standardisierten Prüfsystems mit konfigurierbaren I/O-Steckplätzen sowie Timing- und Synchronisationsfunktionen, die Sie für anspruchsvolle Elektronik benötigen. Bus-, Funk-, Navigations-, Audio-, Konnektivitäts-, Mobilfunktests etc. lassen sich mit Schleifenraten im Mikrosekundenbereich in automatisierten, wiederholbaren Testsequenzen durchführen. Die modulare PXI-Testarchitektur ermöglicht es Ihnen, die Mess- und Steuerfunktionen mit einer großen Auswahl an Modulen flexibel zu erweitern.
Sie sind sich noch nicht ganz sicher oder haben weitere Fragen zu den Geräten? Zögern Sie nicht uns zu kontaktieren. Ob direkt am Telefon oder per Online-Demo bequem bei Ihnen vor dem Bildschirm – Unsere Experten sind für Sie da.