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Source Measure Units

Source / Measure Units (SMUs) zur Bestimmung der Kennwerte bis in den fA- und nV-Bereich von passiven und aktiven Bauelementen (Halbleiter) | Strom- und Spannungs-Quellen (SMUs) zur Bestimmung der Kennwerte bis in den fA- und nV-Bereich von aktiven und passiven Bauelementen | Modulare DC-Labor-Stromversorgungen und Analysatoren mit bis zu 8 unabhängigen Ausgängen | Software.

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2510-AT
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2510.
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2602B
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Wafer-Probestation

Probing-Lösungen für schnelle Wafer-Tests.

2601B
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2651A
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2614B
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N6783A
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2400
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2611B
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2657A
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2612B
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2601B-PULSE
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2502/E
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2635B
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2634B
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2636B
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