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Keithley 2651A | SourceMeter, High Power SMU, 4-Quadranten-Betrieb, 100 mV bis 40 V, 10 nA bis 50 A, 200 W

Herstellernummer: 2651A

Keithley 2651A
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Keithley 2651A | High Power SourceMeter SMU, Source Measure Unit, Ausgangsspannung bis 40 V, Ausgangsstrom bis 40 A, Ausgangsleistung bis 200 W, integriertes Digitalmultimeter mit 6½ Stellen.

  • 4-Quadranten-Betrieb: Einsatz als Präzisionsquelle und -senke
  • Integriertes Digitalmultimeter: 6½-stellig, DCV, DCI, Widerstand
  • 5 Ausgangsspannungsbereiche: 100 mV, 1 V, 10 V, 20 V, 40 V; erweiterbar bis 80 V durch Serienschaltung von 2 Geräten
  • Messauflösung der Spannung: 1 µV bis 100 µV je nach Messbereich
  • Grundgenauigkeit der Spannungsmessung: 0,02 %
  • Ausgangsstrom: 10 nA bis 1 A in Dekadenschritten, dann 5 A, 10 A, 20 A und 50 A (12 Bereiche); erweiterbar bis 100-A-Pulse durch Parallelschaltung von 2 Geräten
  • Messauflösung des Stroms: 1 pA bis 100 µA je nach Messbereich
  • Grundgenauigkeit der Strommessung: 0,05 bis 0,12 %, messbereichsabhängig
  • TSP-Technologie (Test Script Processor): zur Erstellung und Ausführung benutzerdefinierter Testskripte für die Hochgeschwindigkeits-Testautomatisierung, zur Erstellung von Programmiersequenzen für den asynchronen Gerätebetrieb sowie zur Erweiterung der Kanalanzahl ohne Programmieraufwand
  • Optionale ACS-Software zur Halbleiterkomponenten-Charakterisierung mit Trace-Funktion (erzeugt einen Satz charakteristischer Kurven für Bauteile)
  • Parallele Testausführung und präzises Timing, wenn mehrere SMU 2651A und 2600B miteinander verbunden sind (bis zu 32 Geräte, max. 64 Kanäle)
  • 14 digitale E/A-Leitungen für den direkten Anschluss an eine Prüfstation, einen Komponenten-Handler oder andere Automatisierungswerkzeuge
  • Schnittstellen: USB, GPIB, LXI Ethernet, RS-232, Digital I/O
  • Stromversorgung: 100/240 V AC, 50/60 Hz
  • Maße: B 435 x H 104 x T 620 mm (inkl. Tragegriffe)
  • Gewicht: 10 kg

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Detailbeschreibung

2651A | SourceMeter, High Power SMU, 4-Quadranten-Betrieb, 100 mV bis 40 V, 10 nA bis 50 A, 200 W

Das High Power SourceMeter 2651A ist speziell für die Charakterisierung und Prüfung von Hochleistungselektronik konzipiert. Die SMU unterstützt Sie bei der Verbesserung Ihrer Produktivität in der Entwicklung, Produktion und Qualitätskontrolle. Anwendung findet das System 2651A u. a. bei Tests von Hochleistungs-LEDs, Leistungshalbleitern, DC-DC-Wandlern, Batterien, Solarzellen und anderen Hochleistungskomponenten, Modulen und Unterbaugruppen.

2651A ist eine hochflexible Vier-Quadranten-Spannungs- und Stromquelle/Last mit integriertem, 6½-stelligen Digitalmultimeter. Die Source Measure Unit wird eingesetzt als:

  • Präzisionsstromversorgung mit V- und I-Rückmeldung
  • Präzisionslast zur Charakterisierung von Halbleitern
  • V- oder I-Wellenformgenerator
  • V- oder I-Impulsgenerator
  • 6½-stelliges Digitalmultimeter für Messungen von DCV, DCI, Widerstand und Leistung

Über die TSP-Link-Technologie können mehrere Modelle 2651A mit weiteren SMU der Serie 2600B zu einem größeren integrierten System mit bis zu 32 Geräten verbunden werden (max. 64 Kanäle). Die eingebaute 500-ns-Triggersteuerung garantiert ein präzises Timing und optimiert die Kanal-Synchronisierung. Die vollständig isolierten, unabhängigen Kanäle ermöglichen echte SMU-pro-Pin-Tests.

In Reihenschaltung zweier Geräte 2651A kann der Spannungsbereich von 40 V auf 80 V erweitert werden. Die eingebaute Intelligenz vereinfacht das Testen, indem die Einheiten als ein einziges Instrument angesprochen werden und so einen überragenden Dynamikbereich von 100 A bis 1 pA bieten – für Tests über einen sehr großen Bereich von Leistungshalbleitern bzw. anderen Komponenten.

Digitalisieren oder Integrieren:

Wesentlicher Vorteil der SMU 2651A sind die zwei verfügbaren Messmodi, die eine präzise Charakterisierung von transientem und stationärem Verhalten, einschließlich schnell wechselnder thermischer Effekte, ermöglichen. Um Umschaltzeiten zu minimieren, wird in jedem Messmodus ein separater Analog-Digital-Wandler eingesetzt, einer für Strom und einer für Spannung. Beide Wandler tasten gleichzeitig ab, um ein genaues Rücklesen der Quellendaten (Ausgangsstrom und -spannung) zu ermöglichen, ohne dabei den Testdurchsatz zu reduzieren. Dadurch lassen sich simultan und sehr schnell Änderungen im Strom- und Spannungsverhalten erfassen. Der Modus „Digitalisieren“ erreicht eine Umsetzdauer von 1 µs pro Abtastung für die beiden 18-Bit-A/D-Wandler zur simultanen Erfassung von Spannungs- und Stromtransienten. Im Messmodus „Integrieren“ ermöglichen die beiden 22-Bit-A/D-Wandler eine noch präzisere Messung von Spannung und Strom.

Hochgeschwindigkeitspulse:

Während des Tests minimiert 2651A die unerwünschten Auswirkungen der Selbsterwärmung des DUT (Device Under Test) durch kurze Impulse (100 µs) zur Ansteuerung und Messung. Zusätzlich kann durch Programmierung die Impulsbreite von 100 μs bis DC und das Tastverhältnis von 1 bis 100 % erweitert werden. Ein Gerät kann Impulse von bis zu 50 A erzeugen. Werden zwei Geräte mittels TSP-Technologie (Test Skript Processor) parallelgeschaltet, können Impulse bis 100 A erzeugt werden ohne die übliche Leistungs- und/oder Kanalbegrenzung, die mainframe-basierte Systeme bieten.

Lieferumfang

  • 2651A-KIT-1A Low Impedance Kabelkit, 1 m
  • CS-1592-2 High Current Phoenix-Konnektor (male)
  • CS-1626-2 High Current Phoenix-Konnektor (female)
  • CA-557-1 Sense-Line-Kabelkit, 1 m
  • 7709-308A Digital-I/O-Konnektor
  • CA-180-3A TSP-Link/Ethernet Cable
  • Dokumentations-CD
  • Software-Tools und -Treiber (CD)

Zubehör (3 Produkte )
Tektronix 2651A-3Y-EW
3 Year Keithleycare Extended Warranty

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Tektronix 2651A-EW
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Keithley 2601B-PULSE
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System Source Meter, 10µs Pulser / SMU Instrument

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3 Year Keithleycare Extended Warranty

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Das Tektronix-Unternehmen Keithley wurde 1946 in einer Garage gegründet und entwickelte sich rasch zu einem führenden Anbieter fortschrittlicher elektrischer Messgeräte sowie Systeme für die besonderen Bedürfnisse von Herstellern elektronischer Geräte für Hochleistungs-Produktionstests, Prozessüberwachung und Produktentwicklung und -forschung.
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