Keithley 2520. | Impuls-Laserdioden-Testsystem, Pulsed Laser Diode Test System, Impulsstromstärke bis 5 A

Name: 2520. | Impuls-Laserdioden-Testsystem, Pulsed Laser Diode Test System, Impulsstromstärke bis 5 A
Brand: Keithley
SKU: 2520.
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Keithley 2520. | Impulslaserdioden-Testsystem, Pulsed Laser Diode Test System mit Remote-Testkopf, Impulsstromstärke bis 5 A, DC-Stromstärke bis 1 A.

Vereinfacht den LIV-Test von Laserdioden vor der Modulmontage oder vor Fixieren des Laserchips auf dem Kühlkörper
Integrierte Lösung für die prozessbegleitende LIV-Produktionsprüfung von Laserdioden auf Chip- oder Bar-Level
Mess-Sweeps können so programmiert werden, dass sie bei der optischen Leistungsgrenze unterbrochen werden
Kombiniert Quelle und Messung mit hoher Genauigkeit für gepulste und DC-Tests
Synchronisierte DSP-basierte Messkanäle ermöglichen hochpräzise Lichtintensität- und Spannungsmessungen
Programmierbare Impulsdauer von 500 ns bis 5 ms mit Tastverhältnis bis zu 4 %
Impulsstromstärke bis zu 5 A, DC-Stromstärke bis zu 1 A
14-Bit-Messgenauigkeit für die drei Messkanäle (Laser-forward-Voltage VF, Strom der rückwärtigen Fotodiode, Strom der Messdiode am Laserausgang)
Ein Messalgorithmus erhöht das Signal-Rausch-Verhältnis bei Impulsmessungen
Pufferspeicher für bis zu 1000-Messpunkt-Sweeps: reduziert den GPIB-Datenverkehr während des Tests und erhöht dadurch den Testdurchsatz
Digitale E/A-Klassifizierung und Handler-Steuerung
Schnittstellen: GPIB, RS-232
Stromversorgung: 100 bis 260 V AC, 50/60 Hz
Maße: B 238 x H 105 x T 416 mm (inkl. Tragegriffe)
Gewicht: 2,67 kg

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Detailbeschreibung

2520. | Impuls-Laserdioden-Testsystem, Pulsed Laser Diode Test System, Impulsstromstärke bis 5 A

Das Impulslaser-Diodentestset 2520. ist ein integriertes, synchronisiertes System zum Testen von Halbleiter-Laserdioden in einem frühen Stadium des Herstellungsprozesses, wenn eine geeignete Temperaturkontrolle nicht zu bewerkstelligen ist. Das Modell 2520. bietet alle Quell- und Messfunktionen, die für die gepulste sowie kontinuierliche LIV-Prüfung eines Lasers (Licht-Strom-Spannung) erforderlich sind. Die enge Synchronisierung von Quelle- und Messfunktionen gewährleistet eine hohe Messgenauigkeit, auch wenn der Testvorgang mit Impulsbreiten von bis zu 500 ns beaufschlagt wird.

Einfache One-Box-Testlösung:

2520. bietet drei Messkanäle, die von einem einzigen digitalen Signalprozessor (DSP) gesteuert werden, der eine enge Synchronisierung der Quellen- und Messfunktionen gewährleistet. Der Kanal zum Betreiben der Laserdiode bietet eine Stromquelle, die mit Spannungsmessfunktionen gekoppelt ist. Die beiden Kanäle für die Photodetektoren liefern jeweils eine einstellbare Vorspannung mit Spannungsregelung und können zusätzlich den Photodiodenstrom messen. Die drei Kanäle des 2520. bieten alle erforderlichen Quellen- und Messfähigkeiten für die Charakterisierung von Laserdioden vor dem Einbau in Module mit Peltier-Element und Thermistor.

Durch die „One-Box“-Testlösung ergibt sich eine erhebliche Vereinfachung des Testsystems mit geringerem Entwicklungsaufwand für die Testsoftware im Vergleich zu einem Testsystemaufbau aus Einzelgeräten. Zudem kann die Messwertaufnahme der Parameter durch die parallele Synchronisierung simultan erfolgen. Hieraus ergibt sich ein höherer Testdurchsatz.

LIV-Testfähigkeit:

Das Testsystem 2520. kann gepulste LIV-Tests bis zu 5 A und Gleichstrom- LIV-Tests bis zu 1 A durchführen. Dank der gepulsten Testfähigkeiten eignet sich das Gerät für ein sehr breites Spektrum an Laserdioden einschließlich Pumplaserdesigns für Raman-Verstärker. Da sowohl DC- als auch gepulste LIV-Sweeps möglich sind, vereinfacht 2520. auch die Analyse der Auswirkungen von thermischen Transienten auf die LIV-Eigenschaften der Laserdiode.

Typische Applikationen:

Test von Telekommunikations-Laserdioden in der Fertigung
Test von Laserdioden mit Lese-/Schreibkopf für optische Speicher
Test von oberflächen-emittierenden Lasern mit vertikaler Kavität (VCSELs / Vertical Cavity Surface Emitting Laser)
Messung des thermischen Widerstandes
Bestimmung des Verlaufs der Sperrschichttemperatur

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Das Tektronix-Unternehmen Keithley wurde 1946 in einer Garage gegründet und entwickelte sich rasch zu einem führenden Anbieter fortschrittlicher elektrischer Messgeräte sowie Systeme für die besonderen Bedürfnisse von Herstellern elektronischer Geräte für Hochleistungs-Produktionstests, Prozessüberwachung und Produktentwicklung und -forschung.

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