#statusMessage#
Möchten Sie den Produktvergleich starten?
#statusMessage#
Möchten Sie den Produktvergleich starten?
Ohne stabile Kommunikation kein sicherer Betrieb. In der Luft- und Raumfahrt sind Ausfälle keine Option. Gleichzeitig st...
In sicherheitskritischen Entwicklungs- und Fertigungsprozessen entscheidet die Testarchitektur über Qualität, Kosten und...
Steigende Effizienzanforderungen in Fahrzeugen, Rechenzentren und Industrie treiben neue Bordnetz- und Versorgungskonzep...
Frühzeitige Prävention, umfassende Zertifizierung, gezielte Fehlerbehebung. In jedem Bereich Ihres Rechenzentrums helfen...
Herstellernummer: XF1
| Gewicht (kg): | 0,4 |
|---|
Die Sonden aus dem Satz XF1 enthalten elektrisch geschirmte Messköpfe, welche für hochfrequente Magnetfeldmessungen an elektronischen Baugruppen, Bauelementen und an IC-Pins konzipiert wurden.
Die passiven Sonden werden über Kabel mit SMA-Steckverbinder an den 50 Ohm-Eingang eines Spektrumanalysators angeschlossen und ermöglichen die vergleichende Magnetfeld- und Strommessung im Frequenzbereich von 30 MHz bis 6 GHz.
Nahfeldsondensatz XF1Lieferumfang:
In der Praxis erweist sich die EMV-Fehlersuche oftmals als komplexer, zeitaufwendiger Vorgang. Zu spät erkannte Anomalie...
Der Spektrumanalysator gehört in der Entwicklung, Produktion oder Qualitätssicherung zur unverzichtbaren Messausrüstung....