Probing-Lösungen für schnelle Wafer-Tests.

Was ist eine Wafer-Probestation?

• Präzision für Ihren Wafer-Test: Die Probestation stellt einen hochpräzisen, mechanischen Kontakt zum unvereinzelten Wafer her und schafft die elektrische Verbindung zu Ihrem Parameteranalysator. Dieser stimuliert den Halbleiter-Prüfling und misst seine elektrischen Kennwerte.
• Effizienz durch Spezialisierung: Die Konfiguration der Probestation folgt einer strukturierten Planung jedes einzelnen Testschritts. So wird gewährleistet, dass der Wafer Prober exakt auf Ihre Testanforderungen abgestimmt ist – für einen optimalen und wirtschaftlichen Prüfablauf.
• Drei Automatisierungsstufen: Manuell, halbautomatisch oder vollautomatisch – unterschiedliche Betriebsweisen von Probestationen berücksichtigen individuelle Stückzahlen und spezifische Messanwendungen. Eine besondere Brücke bildet die halbautomatische Probestation, die sich zum Vollautomaten ausbauen lässt und somit auch bei steigenden Stückzahlen Investitionssicherheit bietet.

Verschaffen Sie sich frühzeitig Klarheit über die elektrische Qualität Ihrer Chips und beschleunigen Sie die Produktentwicklung. Wenn Prozessabweichungen schnell erkannt werden, lassen sich Ausschuss oder Nacharbeiten vermeiden und Ausfallkosten reduzieren.

Komplettlösung für Ihren Wafer-Test.

Die elektrischen Messungen mit einer Wafer-Probestation erfolgen über geeignete Messgeräte. Parameteranalysatoren und Curve Tracer bieten hierfür spezielle integrierte Funktionen, die für eine systematische Halbleiter-Charakterisierung erforderlich sind. Der Parameteranalysator bündelt Messfunktionen wie IV-, CV- oder Pulsmessungen sowie synchronisierte SMU-Kanäle in einem System. Der Curve Tracer ist stärker auf die Darstellung und Bewertung von IV-Kennlinien ausgerichtet. Beide Messgeräte werden eingesetzt, um das Verhalten von Bauelementen wie Dioden, Transistoren oder SiC-/GaN-Leistungshalbleiter sichtbar zu machen.

Als Partner von BSW können wir Ihnen mit den Probestationen eine vollständige Testlösung für die Wafer-Charakterisierung liefern. Zusammen mit einem Parameteranalysator oder Curve Tracer der Hersteller Keithley, Iwatsu und Keysight erhalten Sie damit ein hocheffizientes System, um Ihren Prüfling präzise zu kontaktieren und zu messen.

Parameteranalysatoren für den Einsatz mit einer Probestation.