Die steigende Datenrate führt dazu, dass der Signal-Integrität auf Leiterplatten immer mehr Bedeutung zukommt. Von daher werden auch die Anforderungen an Messsysteme bzgl. Genauigkeit steigen, um z. B. die Impedanzveränderungen entlang einer Leitung auf einer Leiterplatte oder die Ankopplung an Steckersysteme zu vermessen. Für mobile Geräte wie Tablets oder Mobiltelefone werden Antennen direkt auf den Leiterplatten realisiert. Daher genügt es nicht, nur im Zeitbereich die Impedanzmessungen an Leiterplatten durchzuführen sondern Qualifizierungen müssen auch im Frequenzbereich durchgeführt werden.
In Verbindung mit der Option 011 (Zeitbereichsanalyse und Test-Wizard) kann der Netzwerk-Analysator E5063A die Messwerte nicht nur im Frequenzbereich sondern auch im Zeitbereich darstellen. Zusätzlich enthält die Option 011 ein GUI (Graphical User Interface) und einen Test-Wizard, mit denen die Messungen leichter aufgesetzt und dargestellt werden können. Ebenso kann an dem E5063A die Anzahl der Eingänge über programmierbare koaxiale Relais-Schalter U1810B erweitert werden, um mehrere DUTs (Device under Test) anschließen zu können. Die Steuerung dieser Relais erfolgt durch den Netzwerk-Analysator und ermöglicht auch das gleichzeitige Messen mit differenziellen bzw. single ended Tastköpfen.