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Genesys AC Serie

TDK-Lambda
Genesys AC Serie

AC Netzgeräte GAC / GAC-Pro

Ausgangsleistung (W): 3000
max. Strom (A): 30
max. Spannung (V): 350

Auf Anfrage

DP5730A

Serie

Keysight
DP5730A

DC Netzgerät, 100 V, 15 A, 1,5 kW, 1P, 100/240 VAC, LAN, USB, GPIB

AC Eingang: 100 V - 240 V, 1P, 50 Hz / 60 Hz
max. Strom (A): 15
Autorange: Nein
Bidirektional: Nein
max. Spannung (V): 100
Schnittstellen: LAN, USB, GPIB
Ausgangsleistung (W): 1500
Schutzvorrichtungen: OVP, OCP, OTP, UVP

5.495,00 €

Lieferzeit auf Anfrage

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Seminar LabVIEW Core 1

NI
Seminar LabVIEW Core 1

LabVIEW Core 1, 20.-22.04.2026 in Hamburg (LV1_HH_260420)

Veranstaltungsmonat: April
Seminar-Typ: Präsenzseminar
PLZ-Gebiet: 20***
Seminar-Thema: LabView
Veranstalter: NI
Veranstaltungsort: Raum Hamburg

2.790,00 €

Seminar Normen VDE

dataTec
Seminar Normen VDE

Norm VDE 0100-600/0105-100 »Theorie und Praxis« in Reutlingen, 23.-24.04.2026 (0100_RT_260423)

Seminar-Thema: VDE 0100/0105
Veranstaltungsmonat: April
Seminar-Typ: Präsenzseminar
Veranstaltungsort: Reutlingen
PLZ-Gebiet: 72***

995,00 €

Aerospace & Defense
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Automotive
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Forschung & Lehre
Medizin & Medizintechnik
Normen
Software

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Mit Infrarot gegen Produktionsausfälle.

So verbessert Thermografie die Fertigung. Maschinenstillstände, Überhitzung von Bauteilen oder elektrische Defekte – in ...

10.07.25

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Netzqualität im Fokus: Warum präzise Analysen entscheidend sind.

Störungen im Stromnetz bleiben oft unbemerkt, bis Anlagen stillstehen oder Geräte ausfallen. Wer die Netzqualität regelm...

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019a4a09684f7394a4ac751011de102d 019a4a09684f7394a4ac751011de102d

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Die Checkliste zur Kalibrierung

Nur wer regelmäßig kalibriert, kann sicher messen – diese Checkliste zeigt, wie.

In dieser praxisorientierten Checkliste erfahren Sie, wie Sie Ihre Mess- und Prüfgeräte optimal kalibrieren – einfach, e...

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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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