Der XJQuad von XJTAG ist ein leistungsfähiger USB-zu-JTAG-Controller mit vier Testports, der speziell für den Einsatz in der Elektronikfertigung entwickelt wurde. Mit dem kompakten Testsystem können bis zu vier Leiterplatten beziehungsweise Prüflinge gleichzeitig getestet und programmiert werden. Dabei lässt sich jeder Port unabhängig verwenden oder für einen synchronen Testablauf gemeinsam starten.
Jeder der vier Ports kann einen separaten Prüfling mit bis zu vier JTAG-Ketten ansteuern. Dadurch eignet sich der XJQuad besonders für Produktionslinien, in denen hohe Stückzahlen, kurze Prüfzeiten und reproduzierbare Testergebnisse erforderlich sind. Das Gerät führt Testprojekte aus, die mit XJDeveloper erstellt wurden, und vereint unter anderem Verbindungstests, In-System-Programmierung, die Prüfung von Bauteilen ohne eigene JTAG-Schnittstelle sowie die Verwaltung von Seriennummern und konfigurierbaren Protokolldateien.
Typische Einsatzmöglichkeiten sind die automatisierte Prüfung bestückter Leiterplatten, Funktionstests innerhalb von Fertigungs- und End-of-Line-Prüfständen, die schnelle Programmierung von Flash-Speichern sowie die Fehlerdiagnose und Qualitätssicherung in der Serienproduktion. Da fertig geprüfte Baugruppen an einzelnen Ports ausgetauscht werden können, während die übrigen Tests weiterlaufen, unterstützt der XJQuad einen besonders effizienten und kontinuierlichen Produktionsprozess.
Konfigurierbare Pinbelegungen, einstellbare Signalspannungen, automatische Laufzeitkorrektur und variable Signalterminierungen ermöglichen eine flexible Anpassung an unterschiedliche Leiterplattendesigns, Kabelkonfigurationen und JTAG-Ketten. Die benötigte XJTAG-Lizenz ist direkt im Gerät hinterlegt, sodass das Testsystem ohne feste Bindung an einen bestimmten Steuerungs-PC eingesetzt werden kann.
Produktmerkmale:
- Produktbezeichnung: XJQuad Multiport JTAG Tester
- Artikelnummer: XQS-0040
- Vier unabhängig oder synchron nutzbare Testports
- Gleichzeitige Prüfung von bis zu vier Leiterplatten beziehungsweise Prüflingen
- Unterstützung von bis zu vier TAP- beziehungsweise JTAG-Verbindungen pro Prüfling
- Konfigurierbare Pinbelegung der 20-poligen JTAG-Anschlüsse
- JTAG-Taktfrequenz bis zu 166 MHz
- Zwei konfigurierbare Signalspannungen
- Einstellbarer Spannungsbereich von 1,1 V bis 3,3 V
- Spannungseinstellung in Schritten von 0,1 V
- JTAG-Signale sind 5-V-tolerant
- Automatische Signal-Laufzeitkorrektur zur Optimierung der Signalqualität
- Einstellbare Terminierung der JTAG-Signale
- Integrierter Taster zum Starten eines Tests
- Visuelle Anzeige des jeweiligen Teststatus
- Freie Anschlusspins können alternativ als Teststart- oder Statussignale verwendet werden
- Freie Anschlusspins sind während des Tests als universelle Ein- und Ausgänge nutzbar
- Unterstützung schneller Programmierverfahren, beispielsweise für Flash-Speicher
- Integrierte Spannungsmessung an allen Ein- und Ausgangspins
- Messbarer Spannungsbereich: 0 V bis 5 V
- Integrierter Frequenzzähler an allen Ein- und Ausgangspins
- Messbarer Frequenzbereich: 1 Hz bis 200 MHz
- Wählbare Messintervalle: 1 ms, 10 ms, 50 ms, 100 ms, 500 ms, 1 s, 5 s und 10 s
- High-Speed-USB-2.0-Schnittstelle zum Steuerungs-PC
- Stromversorgung über ein mitgeliefertes 12-V-Netzteil
- Benötigt einen freien USB-2.0-Anschluss am Steuerungs-PC
- Empfohlene PC-Ausstattung: Prozessor mit mindestens vier CPU-Kernen
- Integrierte XJTAG-Lizenz für einen flexiblen Einsatz an unterschiedlichen PCs
.webp "Seminar LabVIEW Core 1")
