Die Wide Bandgap Double Pulse Test (Option WBG-DPT) Anwendung für Ihr Tektronix Oszilloskop der Serie 5 ermöglicht präzise Doppelpulsmessungen und vereinfacht so das Testen.
Produktmerkmale:
- 16+ Schlüsselmessungen gemäß JEDEC und IEC Standards
- Möglichkeit zur Prüfung von SiC- oder GaN-Geräten sowie Si-MOSFETs und IGBTs
- Spezifizieren von Pulsbereichen wie dem ersten, zweiten oder mehreren Interessenspulsen und Korrelation mit den skalaren Ergebnissen im Abzeichen
- Anmerkungen auf Messkurven zur Darstellung interessanter Bereiche
- Einfaches Navigieren im Pulsbereich für Anwendungsfälle mit mehreren Pulsen
- Einzigartiger Kantenverfeinerungsalgorithmus zur Analyse von verrauschten Messkurven
- Programmatische Schnittstelle zu allen Messungen und Konfigurationen ermöglichen die vollständige Automatisierung in Testsystemanwendungen
- Unterstützung von Auto- und benutzerdefinierten Referenzpegeln zur präzisen Identifizierung von Start- und Stoppbereichen
- Die Konfiguration des Hysterese-Pegels an der Gate-Quelle hilft, falsche Flanken zu vermeiden
- Schnelles Hinzufügen und Konfigurieren von Messungen über die intuitive Drag-and-Drop-Benutzeroberfläche der 4/5B/6B Series MSO
- Überlappender Plot für Reverse Recovery (trr) Messung
- Suchrichtungen (vorwärts, rückwärts) für effektives Debuggen von Pulsbereichen
- Unterstützung für die Steuerung des Gate-Treibers (AFG31000 Serie) zur Erzeugung von Doppelpulssignalen
- Deskew-Funktion für Schaltanalysen
Die Anwendung ist basierend auf den folgenden Standardreferenzen konzipiert:
- Double Pulse Test (DPT)
- IEC 60747-9
- JEP182
- IEC 60747-8
- Diode Reverse Recovery
Folgende Messungen werden durchgeführt:
- Niederspannungs-Schaltparameter und Diode Reverse Recovery auf der Hochspannungsseite
- Schaltparameter Niederspannungs- und Hochspannungsseite