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EL4913A

Serie

Keysight
EL4913A

Regenerative DC Last, 80 V, 40 A, 2 kW, 200/520 VAC, LAN, USB, CAN IO

Messfunktionen: Spannungsmessung (Voltage Measurement), Strommessung (Current Measurement), Leistungsmessung (Power Measurement), Energie-Messung / Regeneration (Energy Measurement / Regeneration), I/O-Überwachung (Input/Output Monitoring)
AC Eingang: 110 V - 520 V, 3P, 50 Hz / 60 Hz
Schutzvorrichtungen: OVP, OCP, OPP
max. Strom (A): 40
max. Spannung (V): 80
Netzrueckspeisung: Ja
Ausgangsleistung (W): 2000
Schnittstellen: LAN, USB Optional: GPIB

4.800,00 €

Lieferzeit auf Anfrage

i34

Serie

Teledyne FLIR
i34

Wärmebildkamera, 240 x 320 px, 38° FOV, 30 Hz, -20° C bis + 450° C, 40 mK, ohne LTE-Modul, iXX Serie (18455-1101)

Fokus: fokusfrei
Temperaturmesspunkte: 76800
kleinste Auflösung IFOV (mrad): 2.9
Auflösung in Pixel: 240 x 320
Thermische Empfindlichkeit (mK): 40
Bildfrequenz (Hz): 30
max. Sichtfeld (FOV): 38° x 49°

4.599,00 €

Lieferzeit auf Anfrage

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LabVIEW-Software-Seminar, Lernangebot für Studierende und Ingenieure

NI
Seminar LabVIEW Core 1

LabVIEW Core 1, 31.08.-02.09.2026 in Hamburg (LV1_HH_260831)

Seminar-Typ: Präsenzseminar
PLZ-Gebiet: 20***
Seminar-Thema: LabView
Veranstalter: NI
Veranstaltungsort: Raum Hamburg
Veranstaltungsmonat: August;September

2.790,00 €

LabVIEW-Software-Seminar, Lernangebot für Studierende und Ingenieure

NI
Seminar LabVIEW Core 2

LabVIEW Core 2, 03.-04.09.2026 in Hamburg (LV2_HH_260903)

Veranstaltungsmonat: September
Seminar-Typ: Präsenzseminar
PLZ-Gebiet: 20***
Seminar-Thema: LabView
Veranstalter: NI
Veranstaltungsort: Raum Hamburg

1.860,00 €

Aerospace & Defense
Prozesstechnik & Automatisierung
Automotive
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Forschung & Lehre
Medizin & Medizintechnik
Normen
Software

Applikationen & Fachartikel

Luft- und Raumfahrt: Messlösungen für kritische Kommunikation.

Ohne stabile Kommunikation kein sicherer Betrieb. In der Luft- und Raumfahrt sind Ausfälle keine Option. Gleichzeitig st...

30.01.26

019c0dafdf897b3b9de417dce72e95eb 019c0dafdf897b3b9de417dce72e95eb

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Applikationen & Fachartikel

Entwicklungsrisiken senken. Testsets zukunftssicher aufstellen.

In sicherheitskritischen Entwicklungs- und Fertigungsprozessen entscheidet die Testarchitektur über Qualität, Kosten und...

28.01.26

019c048d0ba3775fa7db62d4ec9843ec 019c048d0ba3775fa7db62d4ec9843ec

Lesedauer 3 Min.

0

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Applikationen & Fachartikel

48 Volt – Technologie mit Zukunft.

Steigende Effizienzanforderungen in Fahrzeugen, Rechenzentren und Industrie treiben neue Bordnetz- und Versorgungskonzep...

20.04.26

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Lesedauer 8 Min.

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Applikationen & Fachartikel

Ausfallzeiten im Rechenzentrum reduzieren.

Frühzeitige Prävention, umfassende Zertifizierung, gezielte Fehlerbehebung. In jedem Bereich Ihres Rechenzentrums helfen...

02.03.26

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fest

Ethernet
USB

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-20 °C bis +1200 °C
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-20°C bis +1500°C
-20° bis +1500°C
-20° bis +2000°C
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25
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