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Am 29. September 2026 laden NI und dataTec gemeinsam zum NI Tech Day Hamburg 2026 ins Empire Riverside Hotel ein. Im Mittelpunkt stehen aktuelle Trends und Technologien rund um Test-, Mess- und Automatisierungslösungen. Praxisnahe Fachvorträge von NI, dataTec und führenden Technologiepartnern geben Einblicke in Künstliche Intelligenz mit Nigel, Digital Transformation, RF-Testlösungen für Militäranwendungen, Cybersecurity sowie aktuelle Entwicklungen im NI-Portfolio.
Freuen Sie sich auf praxisnahe Impulse, technische Einblicke und die Möglichkeit, Ihre individuellen Fragestellungen mit Experten zu besprechen.
Teilnahme kostenfrei | Plätze limitiert | Verpflegung inklusive
Agenda.
| Uhrzeit | Thema | Referent & Kurzbeschreibung |
|---|---|---|
| 08:30 – 09:00 | Get-together | |
| 09:00 – 09:35 | Eröffnung | What's new at NI | Matteo Bax | NI Laura Le Cam | dataTec |
| 09:35 – 10:10 | NI Partnerkurzvorträge & Elevator Pitches | |
| 10:10 – 10:40 | Pause & Networking | |
| 10:40 – 11:15 | Nigel AI: wie KI Test Engineering revolutionieren wird | Stefan Kissel | Emerson Künstliche Intelligenz verändert die Art und Weise, wie Testsysteme entwickelt, betrieben und optimiert werden. In diesem Vortrag zeigt NI, wie KI Test Engineering effizienter, intelligenter und zukunftssicher machen kann. Erfahren Sie anhand praxisnaher Beispiele, wie KI Entwicklungsprozesse beschleunigt, Testabläufe optimiert und neue Möglichkeiten für automatisierte Tests eröffnet. |
| 11:15 – 11:50 | Von Legacy zu KI-fähigen Testplattformen | Jan Bartel | Eutech Scientific Engineering GmbH Viele bestehende Prüfstände sind technologisch überholt, liefern aber weiterhin valide und unverzichtbare Testergebnisse. Der Vortrag zeigt, wie sich solche Systeme durch gezielte Digital Upgradation schrittweise modernisieren lassen - ohne bewährte Kernprozesse zu verändern. Im Fokus stehen datenorientierte Architekturen, offene Schnittstellen, Digital Twins sowie MCP-basierte Integrationskonzepte zur Anbindung von KI- und Automatisierungslösungen. So entstehen zukunftssichere, vernetzte und KI-fähige Testplattformen auf Basis bestehender Infrastruktur. |
| 11:50 – 12:25 | AI-powered Testing | Thomas Rönpage | Werum Software & Systems AG Künstliche-Intelligenz ist inzwischen in nahezu allen Unternehmen angekommen. Auch im Testing lassen sich mit KI-Funktionen erhebliche Effizienzgewinne erzielen. Besonders KI-Ansätze auf Basis von Large Language Models (LLMs) eignen sich hervorragend zur Unterstützung von Suchfunktionen und sorgen für eine deutlich verbesserte Usability, insbesondere durch die Möglichkeit, natürlichsprachliche Abfragen zu nutzen. |
| 12:25 – 13:25 | Mittagspause & Networking | |
| 13:25 – 14:00 | CRA – der Einfluss von Cybersecurity im Test Engineering | Stefan Kissel | Emerson Cybersicherheitsvorschriften werden in den USA und Europa eingeführt. Ihre Auswirkungen auf Testteams werden die Entwicklung von Testsystemen erheblich verändern. Erfahren Sie, wie NI Sie dabei unterstützt. |
| 14:00 – 14:35 | CRA – Praxisbezug eines Integrationspartners | Kartsten Dallmeyer | Vikings Der Cyber Resilience Act (CRA) stellt neue Anforderungen an die Cybersicherheit von Produkten mit digitalen Elementen – und damit auch an Entwicklungs- und Testprozesse. In diesem Vortrag zeigt ein Integrationspartner aus der Praxis, welche Auswirkungen der CRA auf Testsysteme und deren Entwicklung hat. Anhand konkreter Erfahrungen werden Herausforderungen, Lösungsansätze und wichtige Aspekte für die praktische Umsetzung beleuchtet. |
| 14:35 – 14:50 | Pause & Networking | |
| 14:50 – 15:25 | NI Software-Defined Radio Technology im Überblick | Carsten Unger | Emerson Wie funktioniert moderne Software Defined Radio Technologie und welche Möglichkeiten bietet sie für Entwicklung und Test? Ein R&D-Experte von NI gibt einen direkten Einblick in die aktuellen SDR-Technologien, ihre Einsatzmöglichkeiten und die Herausforderungen bei der Entwicklung moderner Funklösungen. Freuen Sie sich auf praxisnahe Erfahrungen und technische Einblicke aus erster Hand. |
| 15:25 – 16:00 | Best Practices in RF and Wireless Device Testing (EN) | Matyas Süveg | Noffz Today in an AI-assisted world, it feels like we could do nearly anything. The build-vs-buy dilemma has always been there, but the limits are wide open now. It is becoming even more important to decide what we do, what we focus on, and what we choose to outsource. I'll bring examples of such decisions backed up by 4 decades of a System Integrator's experience with a special focus on RF- and Wireless Testing. Matyas Suveg, RnD Manager at NOFFZ, started working on cellular test solutions for the first LTE smartphones in Korea in 2010. Later, he helped transform this technology to the automotive industry by introducing high speed, multi-device production testing for eCall modules in Europe. Currently, his focus is on innovative product development to support validation and testing of new wireless communication standards for a wide range of technologies and devices in 5G/6G, V2X, UWB, BLE, Wi-Fi 7/8 and beyond. |
| ab 16 Uhr | Ausklang & Networking |
Der Countdown läuft
Warum Sie teilnehmen sollten.
- Fachwissen aus erster Hand von Experten von NI und dataTec
- Partner- und Hardwareausstellung mit Einblicken in aktuelle Lösungen
- Zeit für Networking mit Kollegen aus Entwicklung, Test und Applikation
- Kommunikative Pausen inkl. Getränke, Snacks und Mittagessen
Anreise und Parkmöglichkeiten.
Die Veranstaltung findet im Empire Riverside Hotel, Bernhard-Nocht-Straße 97, 20359 Hamburg, im Ballroom statt.
Anreise mit dem Auto:
Parkmöglichkeiten vor Ort stehen in der öffentlichen Tiefgarage zur Verfügung. Die Tiefgarage befindet sich direkt unter dem Empire Riverside Hotel.
Anreise mit öffentlichen Verkehrsmitteln:
S-Bahn | S1 / S3 | Reeperbahn > ca. 7 Minuten Fußweg
U-Bahn | U3 | St. Pauli > ca. 8 Minuten Fußweg
Bus | 2 | St. Pauli Hafenstraße > ca. 3 Minuten Fußweg
Jetzt kostenlos anmelden!
Ihre Fragen beantworten wir Ihnen gerne telefonisch unter +49 7121 / 51 50 50 oder per E-Mail an events@datatec.eu
Hinweis: Ihre Anmeldedaten werden für die Durchführung der Veranstaltung und die anschließende Kontaktaufnahme durch National Instruments Corporation und die dataTec AG verwendet.