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Erleben Sie am 22. April 2026 in Nürnberg einen exklusiven Tag rund um Power- und High-End-Messtechnik im Max Morlock Stadion: Mit praxisnahen Fachvorträgen, direktem Austausch mit Experten und ausgiebigem Networking. Im Mittelpunkt stehen Wissen, Anwendungen aus der Praxis und Ihre individuellen Fragestellungen.
Teilnahme kostenfrei | Plätze limitiert | Verpflegung inklusive
| Uhrzeit | Thema | Kurzbeschreibung | Referent |
|---|---|---|
| 08:30 – 09:00 | Get-Together | Kaffee & erste Gespräche | |
| 09:00 – 09:10 | Begrüßung durch dataTec | |
| 09:10 – 10:00 | Skalierbare Lösungen und Echtzeitsimulation mit PHIL. | Entdecken Sie, wie PHIL (Power Hardware in the Loop) Echtzeitsimulation mit physischer Hardware kombiniert, um flexible, skalierbare Testumgebungen zu schaffen. In dieser Session wird die PHIL-Methodik auf leicht verständliche Weise vorgestellt und es werden praktische Konfigurationen gezeigt, die sich an verschiedene Anwendungen anpassen lassen. Die Teilnehmer erfahren, wie skalierbare Setups und Echtzeitmodelle eine schnellere Entwicklung, sicherere Validierung und realistischere Testabläufe ermöglichen. (Vortrag auf Englisch) Referent: Nacho Rodriguez Gomez | Sales Engineer | Cinergia |
| 10:00 – 10:20 | Pause | Kaffee & Networking | |
| 10:20 – 11:10 | Thermografie als zerstörungsfreie Prüfmöglichkeit in der Elektronik! | Thermale Analyse kleinster Bauteile auf Platinen und Fehlersuche in Baugruppen in der Leistungselektronik Referent: Andreas Angerer | Sales Manager | Flir |
| 11:20 – 11:30 | Pause | Kaffee & Networking | |
| 11:30 – 12:20 | Power Analyse Oszilloskop. | Leistungsanalyse mit modernen Oszilloskopen von Keysight. Referent: tba | tba | Keysight |
| 12:20 – 13:10 | Mittagspause | |
| 13:10 – 14:00 | TDK Lösungen zu Programmable Power Supplies und Power+. | tba Referent: tba | tba | TDK-Lambda |
| 14:00 – 14:20 | Pause | Kaffee & Networking | |
| 14:20 – 15:10 | EMV sichtbar machen. | Im Vortrag erfahren Sie, wie Sie mithilfe eines automatischen 4D-Scanners die elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) einer Leiterplatte sichtbar machen können. Dabei kommen ein Spektrumanalysator von Rohde & Schwarz sowie Nahfeldsonden der Firma Langer zum Einsatz. Der Scanner wird von Pendulum bereitgestellt, ergänzt durch ein Abschirmzelt der Firma Shieldex, das störende Einflüsse zuverlässig minimiert. Referent: Gerold Sept-Enzel | Senior Applikationsingenieur High-End Test & Messtechnik | dataTec |
| 15:10 – 15:20 | Verabschiedung & Ausklang |
Stand: 06.02.2026 | Updates folgen
Die Veranstaltung findet im Max Morlock Stadion, Max-Morlock-Platz 1, 90471 Nürnberg, im Foyer statt.
Anreise mit dem Auto:
Parkmöglichkeiten stehen Ihnen in auf den Parkplätzen S2, S3, S4 und S5 zur Verfügung.
Anreise mit öffentlichen Verkehrsmitteln:
Ihre Fragen beantworten wir Ihnen gerne telefonisch unter +49 7121 / 51 50 50 oder per E-Mail an events@datatec.eu
Hinweis:
Ihre Anmeldedaten werden für die Durchführung der Veranstaltung und die anschließende Kontaktaufnahme durch die dataTec AG verwendet.