Keysight E4980A | LCR-Meter / Komponententester, 20 Hz bis 2 MHz, opt. DC-Bias

• Genauigkeit bei Impedanzmessungen durch äußerst geringes Rauschen sowohl im Hoch- als auch im Nieder-Impedanzbereich
• 0,05 % Basisgenauigkeit bei Impedanzmessungen
• DC Bias 1 m / 2 m / 4 m Messkabellängen
• Leerlauf-, Kurzschluss- und Last-Korrektur
• Gleichspannungsquelle mit äußerst geringem Rauschen von 0 bis ± 10 V
• An der Frontplatte eingebaute USB-Schnittstelle (bei Option 001) zum Speichern von Messergebnissen, Einstellungen, Messverläufen und Display-Darstellungen
• Wechselspannungs-Charakterisierung des DUT (device under test) von 100 µVrms bis 2 Vrms (optional  20 Vrms) und einem Mess-Strom von 1 µA bis 20 mA
• Standardmäßige Gleichstromquelle von 1,5 V und 2 V (optional von 0 bis ± 40 V incl. automatischer Polaritätskontrolle)  für die Wafer-Versorgung und zur Messung von Materialeigenschaften
• Über 30 unterschiedliche Mess-Adapter mit den unterschiedlichsten Prüflings-Aufnahmen - sogar für flüssige Materialien
• Frequenzbereich:  20 Hz bis 2 MHz mit einer 4-stelligen Auflösung in jedem Frequenzbereich
• Basisgenauigkeit:  0,05 % mit außerordentlich guter Messwiederholungs-Genauigkeit bei Hoch- und Nieder-Impedanzmessungen mit Gleichspannungsversorgung des DUT (Prüfling)
• 16 Impedanz-Kenngrößen können gemessen werden.
• Mess-Möglichkeiten: Z, Y, θ, R, X, G, B, L, C, D, Q, ESR, Rdc, (mit Option 001: Vdc, Idc), deviation,% of deviation
• Test Signal Frequenzen 0 bis 2 Vrms / 0 bis 20 mArms (0 bis 20 Vrms / 0 bis 100 mArms mit Option 001)
• Eingebaute 40 V Gleichspannungsquelle, 20 Vrms Testsignal und Widerstandsmessungen  mit Gleichspannungspegeln (diese Möglichkeiten nur in Verbindung mit Option 001)
• Kürzeste Messzeit  5,6 ms
• Messzeiten lassen sich einstellen in: kurz 5,6 ms - mittel 88 ms - lang 220 ms
• 201 Messpunkte bei automatischem Sweep (Wobbelung)
• Handler Interface optional
• Scanner Interface optional
• PC-/Netzwerkverbindungen: LAN, USB, GPIB
• Gewicht 5,3 kg
• Abmessungen B370 x H105 x T390
• Garantie: 3 Jahre

Einsatzbereiche:

• Beim Material-Test zur Bestimmung der relativen Dielektrizitätskonstante oder relativen Permeabilität
• Beim Test elektronischer Komponenten zur Messung von Widerstand, Induktivität und Kapazität
• Produktion und Entwicklung sowie für Anwendungen in Standard-Labors