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Herstellernummer: NFP KIT
Das NFP KIT von Y.I.C. Technologies besteht aus einem Satz aus 5 Feldsonden und dient zur Lokalisierung, Identifizierung, Messung und Charakterisierung potenzieller Quellen elektromagnetischer Strahlung sowie Interferenzen verwendet werden, die von Leiterbahnen oder Komponenten elektronischer Leiterplatten, Baugruppen oder Produkte ausgehen.
Ein kompatibler Spektrumanalysator mit 50 Ω Eingang ist erforderlich.
In Verbindung mit der Software EMViewer und der im Set enthaltenen Kamera kann die HF-Abstrahlung von der Leiterplatte oder dem Gerät visualisiert werden. Die Sonde wird über die Schaltung geführt, die Kamera erfasst die Position der Sonde und in der EMViewer Software wird die Feldstärke farblich codiert als Overlay über dem Bild angezeigt.
Die Nahfeldsonden können sowohl von Hand bedient werden oder auch am EMProbe Roboterarm oder sonstiger Halterungen eingesetzt werden.
In der Praxis erweist sich die EMV-Fehlersuche oftmals als komplexer, zeitaufwendiger Vorgang. Zu spät erkannte Anomalie...
Der Spektrumanalysator gehört in der Entwicklung, Produktion oder Qualitätssicherung zur unverzichtbaren Messausrüstung....