Der XJLink-PF40 von XJTAG ist ein kompakter, tragbarer und robuster USB-C-zu-JTAG-Controller für den schnellen Zugriff auf elektronische Baugruppen und Geräte im Test. Seine vier Anschlüsse stellen insgesamt 40 frei konfigurierbare I/O-Pins bereit und ermöglichen den parallelen Betrieb von bis zu acht unabhängigen JTAG-TAPs. Für jede JTAG-Kette kann eine eigene Taktfrequenz eingestellt werden, sodass unterschiedlich schnelle Komponenten effizient und synchron getestet werden können.
Dank seiner kompakten Bauform lässt sich der Controller direkt in der Nähe des Prüflings positionieren. Das robuste Aluminiumgehäuse, der verschraubbare USB-C-Anschluss und die elektrische Absicherung der I/O-Pins machen den XJLink-PF40 sowohl für den Einsatz im Entwicklungslabor als auch für industrielle Produktions- und Prüfumgebungen geeignet.
Die Anschlussbelegung der JTAG-Schnittstellen wird softwareseitig konfiguriert. Dadurch kann der Controller flexibel an unterschiedliche Leiterplatten, Steckverbinder und kundenspezifische Pinbelegungen angepasst werden. Nicht für JTAG benötigte Pins lassen sich als allgemeine digitale Ein- und Ausgänge, zum schnellen Programmieren von Flash-Speichern, zum Starten von Testabläufen oder zur Ausgabe von Testzuständen verwenden.
Typische Einsatzmöglichkeiten sind Boundary-Scan-Tests, Funktionstests und Fehlerdiagnosen an bestückten Leiterplatten, die Programmierung von Flash-Speichern sowie JTAG- und SWD-basierte Entwicklungs- und Produktionsprüfungen. Da die XJTAG-Lizenz im Controller gespeichert ist, kann das Testsystem flexibel mit verschiedenen Desktop-PCs oder Notebooks verwendet und einfach zwischen Labor, Produktion und Außeneinsatz transportiert werden.
Produktmerkmale:
- Produkttyp: USB-C-zu-JTAG-Testcontroller
- Hersteller-Artikelnummer: XPF-0040
- Vier JTAG-Anschlüsse mit insgesamt 40 frei konfigurierbaren I/O-Pins
- Unterstützung von bis zu acht unabhängigen JTAG-TAPs beziehungsweise JTAG-Ketten
- Individuell konfigurierbare Taktfrequenz für jede JTAG-Kette
- Maximale TCK-Taktfrequenz: 166 MHz
- Unterstützung von JTAG und SWD
- Softwareseitig frei konfigurierbare Anschluss- und Pinbelegung
- Verwendung freier Pins als universelle digitale Ein- und Ausgänge
- Unterstützung für schnelles Flash-Programming
- I/O-Pins zur Auslösung von Testabläufen und Ausgabe des Teststatus verwendbar
- Vier unabhängig programmierbare I/O-Spannungsbereiche
- Einstellbare I/O-Spannung: 1,2 V bis 3,3 V in Schritten von 0,1 V
- Schutz der I/O-Pins gegen Eingangsspannungen von -30 V bis +30 V
- Integriertes Voltmeter an allen I/O-Pins
- Messbereich des Voltmeters: 0 V bis 3,3 V
- Integrierter Frequenzzähler an allen I/O-Pins
- Messbereich des Frequenzzählers: 1 Hz bis 200 MHz
- Wählbare Messzeiträume: 1 ms, 10 ms, 50 ms, 100 ms, 500 ms, 1 s, 5 s und 10 s
- Automatische Signallaufzeit- und Skew-Kompensation
- Optische Anzeige des Teststatus
- USB-2.0-Schnittstelle
- Verschraubbarer USB-C-Anschluss
- Stromversorgung über den USB-Bus
- Kein externes Netzteil erforderlich
- Integrierte, gerätegebundene XJTAG-Lizenz
- Robustes Aluminiumgehäuse
- Montagemöglichkeiten für die Integration in industrielle Testsysteme
- Geeignet für Labor-, Produktions- und mobile Testanwendungen
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