Am 13. Oktober 2026 laden NI und dataTec gemeinsam zum NI Tech Day Berlin 2026 ins Seminaris CampusHotel Berlin ein. Im Mittelpunkt stehen aktuelle Trends und Technologien rund um Test-, Mess- und Automatisierungslösungen. Praxisnahe Fachvorträge von NI, dataTec und führenden Technologiepartnern geben Einblicke in Künstliche Intelligenz mit Nigel, Digital Transformation, RF-Testlösungen für Militäranwendungen, Cybersecurity sowie aktuelle Entwicklungen im NI-Portfolio.

Freuen Sie sich auf praxisnahe Impulse, technische Einblicke und die Möglichkeit, Ihre individuellen Fragestellungen mit Experten zu besprechen.

Teilnahme kostenfrei | Plätze limitiert | Verpflegung inklusive

Agenda.

Uhrzeit	Thema	Referent & Kurzbeschreibung
08:30 – 09:00	Get-together
09:00 – 09:35	Eröffnung \| What's new at NI	Benedikt Gerlicher \| Emerson Laura Le Cam \| dataTec
09:35 – 10:10	NI Partnerkurzvorträge & Elevator Pitches
10:10 – 10:40	Pause & Networking
10:40 – 11:15	Nigel AI – Wie KI das Test Engineering revolutionieren wird	Stefan Kissel \| Emerson Künstliche Intelligenz verändert die Art und Weise, wie Testsysteme entwickelt, betrieben und optimiert werden. In diesem Vortrag zeigt NI, wie KI Test Engineering effizienter, intelligenter und zukunftssicher machen kann. Erfahren Sie anhand praxisnaher Beispiele, wie KI Entwicklungsprozesse beschleunigt, Testabläufe optimiert und neue Möglichkeiten für automatisierte Tests eröffnet.
11:15 – 11:50	NVH Testing für elektrische Maschinen – Von der Messung zur Ursache	Christian Göbel \| AMC - Analytik und Messtechnik GmbH Chemnitz Elektrische Maschinen stellen Entwickler und Prüfingenieure vor neue Herausforderungen. Hohe Drehzahlen, komplexe elektromagnetische Wechselwirkungen und steigende Anforderungen an Akustik, Komfort und Produktqualität machen moderne NVH-Analysen (Noise, Vibration & Harshness) zu einem entscheidenden Erfolgsfaktor. Anhand praxisnaher Beispiele erfahren die Teilnehmer: warum NVH bei elektrischen Maschinen immer wichtiger wird, welche Möglichkeiten moderne Mess- und Datenerfassungssysteme bieten, welche Analyseverfahren in der Praxis zum Einsatz kommen, wie typische Fehlerquellen schneller identifiziert werden können, und wie sich Entwicklungs- und Prüfprozesse nachhaltig optimieren lassen. Besonderes Augenmerk liegt auf drei realen Anwendungsbeispielen aus Industrieprojekten, die zeigen, wie aus Messdaten konkrete technische Entscheidungen entstehen.
11:50 – 12:25	HiL – Hardware in the Loop für jedermann	Manuel Hofmann \| Emerson Steigende Produktkomplexität, immer mehr Software und sich laufend verändernde Anforderungen stellen Entwicklungs- und Testteams vor neue Herausforderungen. Hardware-in-the-Loop (HIL) bietet die Möglichkeit, bereits früh im Entwicklungsprozess realitätsnah zu testen, Fehler schneller zu erkennen und Entwicklungszyklen zu verkürzen. Der Vortrag zeigt, wie HIL nicht nur als Testwerkzeug, sondern als wichtiger Bestandteil moderner Entwicklungsprozesse eingesetzt werden kann. Im Mittelpunkt stehen dabei frühes und kontinuierliches Testen, schnelle Iterationen und flexible Testsysteme, die mit den Anforderungen eines Projekts mitwachsen. Erfahren Sie, wie HIL dabei hilft, mehr zu testen, schneller zu entwickeln und gleichzeitig Ressourcen und Kosten im Blick zu behalten.
12:25 – 13:25	Mittagspause & Networking
13:25 – 14:00	CRA – der Einfluss von Cybersecurity im Test Engineering	Stefan Kissel \| Emerson Cybersicherheitsvorschriften werden in den USA und Europa eingeführt. Ihre Auswirkungen auf Testteams werden die Entwicklung von Testsystemen erheblich verändern. Erfahren Sie, wie NI Sie dabei unterstützt.
14:00 – 14:35	Small Company, Big Threats (Cybersecurity for the rest of us)	Jörg Hampel \| Hampel Software Engineering Cybersecurity ist längst keine Option mehr - jedes digitale Produkt steht zunehmend unter regulatorischem Druck, etwa durch den EU Cyber Resilience Act oder das NIST Framework. Bei HSE haben wir deshalb ein internes Cybersecurity-Projekt gestartet, um Compliance-Anforderungen systematisch anzugehen. In diesem Vortrag zeigen wir anhand konkreter Beispiele, worauf man sich vorbereiten muss, welche Herausforderungen in der Praxis auftreten und welche Maßnahmen sinnvoll sind.
14:35 – 14:50	Pause & Networking
14:50 – 15:25	NI Software-Defined Radio Technology im Überblick	Jan Schirok und Martin Anderseck \| Emerson Wie funktioniert moderne Software Defined Radio Technologie und welche Möglichkeiten bietet sie für Entwicklung und Test? Ein R&D-Experte von NI gibt einen direkten Einblick in die aktuellen SDR-Technologien, ihre Einsatzmöglichkeiten und die Herausforderungen bei der Entwicklung moderner Funklösungen. Freuen Sie sich auf praxisnahe Erfahrungen und technische Einblicke aus erster Hand.
15:25 – 16:00	NI RF-Anwendungen mit VST und USRP im Automotive-Bereich V2X	Gerd Schmitz \| S.E.A. Das RF-Messtechnik- und Software-Defined-Radio-Portfolio (SDR) von NI (USRP, VST-Familie) ist ein wertvoller Baustein, um Projektherausforderungen in der Funktechnologie effizient zu bewältigen und zu lösen. S.E.A. verfügt über umfassende Fachkompetenz bei der Implementierung von Kommunikationsalgorithmen und -standards (zum Beispiel Vehicle-to-Everything, V2X). Die umfassenden Entwicklungs-, Test- und Messanwendungen des Unternehmens unterstützen die automatisierte Erprobung, Validierung und Produktionsprüfung von HF-Bauteilen. Der Vortrag präsentiert eine Übersicht und Beispiele verschiedener Anwendungen.
ab 16 Uhr	Ausklang & Networking

Teilnehmerplatz sichern

Der Countdown läuft

Referent präsentiert die Agenda des NI Day vor einem voll besetzten Veranstaltungsraum.

Warum Sie teilnehmen sollten.

Fachwissen aus erster Hand von Experten von NI und dataTec
Partner- und Hardwareausstellung mit Einblicken in aktuelle Lösungen
Zeit für Networking mit Kollegen aus Entwicklung, Test und Applikation
Kommunikative Pausen inkl. Getränke, Snacks und Mittagessen

Hinweis: Ihre Anmeldedaten werden für die Durchführung der Veranstaltung und die anschließende Kontaktaufnahme durch National Instruments Corporation und die dataTec AG verwendet.

Kostenfrei anmelden

Anreise und Parkmöglichkeiten.

Die Veranstaltung findet im Seminaris CampusHotel Berlin, Takusstr. 38, 14195 Berlin, statt.

Anreise mit dem Auto:
Parkmöglichkeiten vor Ort stehen in der Tiefgarage zur Verfügung. Die Tiefgarage befindet sich direkt am Hotel.

Anreise mit öffentlichen Verkehrsmitteln:
S-Bahn | S1 | Botanischer Garten > ca. 20 Minuten Fußweg oder mit dem Bus
U-Bahn | U3 | Dahlem-Dorf > ca. 3 Minuten Fußweg
Bus | 101 / 110 / M11 / X83 | nahe CampusHotel

Außenansicht des Seminaris CampusHotel Berlin mit verglaster Fassade, Eingangsbereich und Bäumen vor dem Gebäude.

Luftaufnahme des Seminaris CampusHotel Berlin mit begrünter Dachfläche und Blick über die umliegende Stadtlandschaft.

Blick durch die Glasfassade auf helle Veranstaltungsräume im Seminaris CampusHotel Berlin mit Reihenbestuhlung und Tischen.

Jetzt kostenlos anmelden!

Ihre Fragen beantworten wir Ihnen gerne telefonisch unter +49 7121 / 51 50 50 oder per E-Mail an events@datatec.eu

Teilnehmerplatz sichern

Hinweis:
Ihre Anmeldedaten werden für die Durchführung der Veranstaltung und die anschließende Kontaktaufnahme durch National Instruments Corporation und die dataTec AG verwendet.