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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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506 Produkte
RS9010A-10K
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N2852A
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1CP001A
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TRX-1100V-2
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934-065-101
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TA340
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1CN012A
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8101-PIV
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ZZA-T27
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P01295453Z
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1CP026A
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RT-ZA11
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