#statusMessage#

Möchten Sie den Produktvergleich starten?

Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

Filter
513 Produkte
8498A
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
8496H
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
TA343
76,00 €
Lieferzeit auf Anfrage
4225-RPM
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
N1295A
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
11583C
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
N2880A
Auf Anfrage
Versandfertig in 5 bis 10 Arbeitstagen
TA314
95,00 €
Lieferzeit auf Anfrage
J7204B
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage