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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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RS9010A-100M
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N9398F
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PZ2130A
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P01101783
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N9398G
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TA155
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TRX-1100V-0.5
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1CM030A
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J7201A-909
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11930B
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TA343
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4225-RPM
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N1295A
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11583C
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N2880A
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TA314
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J7204B
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