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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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N1412C
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N1254A-106
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1CM033A
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BV0013B
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4200A-CVIV
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TA090
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934-069-100
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N1294A
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A600010
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11581A
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XKM-2
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HA-Z362
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4225-PMU
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J7201B-001
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2657A-PM-200
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RDL50
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