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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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513 Produkte
U1580A
40,69 €
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N2823A
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BP880
19,92 € 24,00 €
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RS9010A-400
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RS9010A-10
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973-592-100
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8494A
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N1254A-103
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1CM001A
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1CP019A
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1CM069A
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XR25-0
8,25 €
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D015540
750,00 €
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934-072-101
7,15 €
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N1254A-524
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1CM003A
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11716A
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GTL-248
153,00 €
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TA337
269,00 €
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11716F
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934-095-101
8,25 €
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2460-BAN
607,00 €
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P01101841
15,15 €
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TRX-1100V-PCBCONN
115,00 €
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