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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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501 Produkte
783469-01
83,00 €
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N9356B
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TA336
289,00 €
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1CM014A
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10833G
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1CN003A
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J7205B
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PX0110A
227,00 €
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934-070-100
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141117
239,00 €
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1CM028A
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934-065-100
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8495D
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934-068-103
7,25 €
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CS-322
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HA-Z366
45,00 €
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N2823A
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RS9010A-400
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RS9010A-10
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973-592-100
4,95 €
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8494A
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N1254A-103
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