#statusMessage#

Möchten Sie den Produktvergleich starten?

Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

Filter
513 Produkte
8496B
Auf Anfrage
1 auf Lager. Versandfertig in 1 Arbeitstag
BP881
26,56 € 32,00 €
1 auf Lager. Versandfertig in 1 Arbeitstag
934-064-101
7,15 €
Lieferzeit auf Anfrage
973-368-100
3,85 €
Lieferzeit auf Anfrage
899-000-000
9,35 €
Lieferzeit auf Anfrage
934-067-103
6,85 €
Lieferzeit auf Anfrage
84907L
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
CT-BOX-MB
107,00 €
Lieferzeit auf Anfrage
930-113-100
6,05 €
1 auf Lager. Versandfertig in 1 Arbeitstag
934-064-102
7,15 €
Lieferzeit auf Anfrage
1CN006A
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
HZ22
52,00 €
Lieferzeit auf Anfrage
TL-PRM-6
63,91 € 77,00 €
Lieferzeit auf Anfrage
899-000-001
9,35 €
Lieferzeit auf Anfrage
GTL-246
10,00 €
Lieferzeit auf Anfrage
1CP004A
Auf Anfrage
Lieferzeit auf Anfrage
934-062-100
7,25 €
Lieferzeit auf Anfrage
934-072-100
7,15 €
Lieferzeit auf Anfrage
LTC9901A-2
Auf Anfrage
Versandfertig in 5 bis 10 Arbeitstagen
P01102047
18,00 €
Versandfertig in 5 bis 10 Arbeitstagen