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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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506 Produkte
1CM113A
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TRX-1100V-BAN
1.200,00 €
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PX0114A
165,00 €
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10833F
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J7201B
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11716D
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P25-0
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N1254A-104
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ZZA-S234
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972-307-101
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2450-TRX-BAN
544,00 €
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10229A
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83059C
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P01103063
432,00 €
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780534-01
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TA341
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1CN103A
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AC120
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HA-Z901
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680-065-010
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