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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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513 Produkte
U2941A
2.532,00 €
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934-060-104
4,95 €
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N9398C
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4201-SMU
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D015531
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U2921A-101
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934-058-102
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RS9010A-100
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1CN007A
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4200-SMU
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J7201B-908
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TA327
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1CM013A
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PX0108A
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TA328
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934-076-100
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FTC00001307D
34,03 € 41,00 €
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934-065-104
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N1294A-011
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