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Halbleiter- und Komponententest

Hier finden Sie Parameteranalysatoren zur Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Halbleiterbauelementen, Source Measure Units zur IV-Charakterisierung von passiven (stromlosen) Komponenten wie Dioden, Widerständen und Kondensatoren sowie Testsysteme für SiC- (Siliciumcarbid) und GaN- (Galliumnitrid) Leistungshalbleiter. Finden Sie das passende Gerät für Material- und Komponenten-Charakterisierungen in Wartung, Konstruktion oder Qualitätskontrolle in unserer Kategorie Halbleiter- und Komponenetentest.

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501 Produkte
J7201C-908
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N1412B
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J7201A-002
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1CP002A
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198506-01
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934-065-102
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1CP006A
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PM9093/001
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34398A
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P01295452Z
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RS9010A-100K
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8010
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AC280
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8496A
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1CM019A
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934-060-104
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N9398C
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4201-SMU
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D015531
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