Die High-Resolution-Serie HRE von Detectus führt EMI-Abtastungen in hochpräzisen Schritten von nur 25 μm durch. Die IC-Option bietet zudem eine hochauflösende Echtzeit-Prüfkamera und spezielle, hochauflösende ICR-Nahfeldsonden. Um das Scannersystem zu vervollständigen, benötigen Sie einen PC und einen Spektrumanalysator.
Die Scanner der HRE4x-Serie sind mit einer erweiterten Rotationsfunktion für Nahfeldsonden ausgestattet. Die Drehung um die Sondenachse stellt sicher, dass alle Feldmaxima trotz unterschiedlicher Empfindlichkeiten der Sonde in verschiedenen Positionierungswinkeln vollständig erfasst werden, seien es Leiterbahnen auf Leiterplatten oder auch Bonddrahte in einem Chip.
Produktmerkmale:
- Messung in 4 Dimensionen: X-Y-Z-Achsen und Rotation der Nahfeldsonde zur genauen Erfassung des E-Feldes
- IC-Option: mikroskopische Hochauflösung von Sonde und DUT via Kamera (>10 µm/px)
- Automatische Sondenkalibrierung via Beacon für reproduzierbare Messergebnisse
- 3D-Oberflachen-Messung: Import von STL-Dateien zur Berücksichtigung der Bauhöhen eines Prüflings
- Multiscan-Messungen ermöglichen Plots für beliebige Frequenzen innerhalb des gemessenen Frequenzbereiches
- Inkl. Temperaturmessung
- Software-Option für Immunitätsmessungen