Das Hochstrom-SourceMeter 2461 verfügt über Gleichstrom- sowie Impulsstromfunktionen bis 10 A / 1000 W und ist damit optimiert für die Charakterisierung und Prüfung von Hochleistungsmaterialien, Geräten und Modulen wie z. B. Siliziumcarbid (SiC), Galliumnitrid (GaN), DC-DC-Wandler, Solarzellen und Panels, LEDs oder Batterien. Das hochauflösende Farbdisplay mit intuitiver graphischer Benutzeroberfläche (GUI) und Touchfunktion optimiert die Messanwendung und trägt zur Fehlerminimierung bei.
Die beiden integrierten Digitalisierer mit 1MSa/s und 18-Bit Auflösung ermöglichen die gleichzeitige Erfassung von Spannungs- und Stromkurven. So lässt sich das reale Verhalten eines Prüflings einschließlich transienter Ereignisse präzise und schnell darstellen.
All-in One SourceMeter:
Das SMU-Instrument 2461 bietet Ihnen hochflexible Vier-Quadranten-Spannungs- und
Stromquelle-/Lastfunktionen gekoppelt mit präziser Strom- und Spannungsmessung. So vereint 2461 die Anwendung als Präzisionsstromversorgung mit V- und I-Rückmeldung, als elektronische Präzisionslast, als Digitalmultimeter für DCV, DCI, Widerstand und Leistung mit 6½-stelliger Auflösung sowie als Triggersteuerung.
Das Grafikdisplay konvertiert Ihre Rohdaten und zeigt diese sofort als analysierbare und interpretierfähige Informationen an, z. B. in Form von Halbleiter-I-V-Kurven oder tabellarisch, ohne die Notwendigkeit eines separaten PCs. Zur Einbindung in Berichtsdokumente etc. können die graphischen Darstellungen auf einem USB-Stick gespeichert werden. Zur erweiterten Analyse mit Tabellenkalkulation unterstützt das SourceMeter 2461 den Export der Testdaten.
TSP-Technologie zur Systemintegration:
Um Ihre Entwicklungszeiten zu reduzieren und die Testdurchsätze zu optimieren, können Sie dank der TSP-Technologie (Test Script Processor) komplette Testprogramme in automatisierten Systemanwendungen ausführen. Benötigen Sie mehr Kanäle, können Sie via TSP-Link bis zu 32 SourceMeter 2461 miteinander sowie mit anderen TSP-fähigen SMU‘s, Multimetern oder Schaltsystemen von Keithley zu einem integrierten System verbinden. So lässt sich Ihre Konfiguration einfach und schnell an Ihre Testanforderungen anpassen.
Anwendungsbeispiele:
- I-V-Charakterisierung und Funktionstests elektronischer Komponenten
- Charakterisierung von Leistungsmaterialien und Halbleiter: SiC, GaN, IBGTs, Power-MOSFETs, HBLEDs
- Charakterisierung von Leistungskomponenten: DC-DC-Wandler, Chipsets für die Telekommunikation, MOVs
- Elektrochemische Anwendungen: Lade-/Entlade-Zyklisieren von Batterien
- Energieerzeugung: Solarzellen, Batterien