La sonde de champ proche XF-R 3-1 sert à mesurer les champs magnétiques HF avec une haute résolution directement sur le module, par ex. dans la zone autour des broches et des boîtiers des CI, des conducteurs des condensateurs de soutien et des composants CEM.
La sonde de champ H XF-R 3-1 possède la même structure de principe que les sondes XF-R 100-1 et XF-R 400-1, mais la résolution de la XF-R 3-1 est nettement plus élevée. La sonde de champ H est adaptée aux mesures à proximité des composants dans la zone des intensités de champ magnétique élevées. Elle ne convient pas pour les mesures à plus grande distance comme celles effectuées avec la XF-R 400-1 et la XF-R 100-1. La sonde de champ proche est petite et maniable. Elle est dotée d'une atténuation du courant de gaine et d'un blindage électrique. La sonde de champ proche est connectée à un analyseur de spectre ou à un oscilloscope avec une entrée de 50 Ω. La sonde de champ H possède une résistance de terminaison interne.