La série HRE haute résolution de Detectus effectue des balayages EMI à des pas très précis de seulement 25 μm. L'option IC offre également une caméra d'inspection en temps réel à haute résolution et des sondes spéciales de champ proche ICR à haute résolution. Pour compléter le système de scanner, il faut un PC et un analyseur de spectre.
Les scanners de la série HRE4x sont équipés d'une fonction de rotation avancée pour les sondes de champ proche. La rotation autour de l'axe de la sonde garantit que tous les maxima de champ sont entièrement détectés malgré les différentes sensibilités de la sonde à différents angles de positionnement, qu'il s'agisse de pistes de circuits imprimés ou même de fils de bonding dans une puce.
Caractéristiques du produit:
- Mesure en 4 dimensions : Axes X-Y-Z et rotation de la sonde de champ proche pour une saisie précise du champ E
- Option CI : haute résolution microscopique de la sonde et du DUT via la caméra (>10 µm/px)
- Calibrage automatique de la sonde via Beacon pour des résultats de mesure reproductibles
- Mesure de la surface 3D : Importation de fichiers STL pour tenir compte des hauteurs de construction d'une pièce à tester
- Les mesures multiscan permettent de réaliser des tracés pour n'importe quelle fréquence dans la plage de fréquence mesurée
- Inclus la mesure de la température
- Option logicielle pour les mesures d'immunité