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Chroma 19501-K | Testeur de décharge partielle pour tester les transistors

Numéro de fabrication : 19501-K

19501-K
19501-K
19501-K
Exclusif
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Points forts Données techniques Documents et téléchargements Description

Chroma 19501-K | Testeur de décharge partielle pour tester les transistors.

  • Fonction intégrée de test Hipot et de détecteur PD en un seul instrument
  • Sortie de tension programmable : 0,1 KVac ~ 10 KVac
  • Haute précision et résolution du current meter : 0,01 µA ~ 300 µA
  • Gamme de détection PD (Partial Discharge) : 1 pC ~ 2000 pC
  • High Voltage Contact Check Function (HVCC)
  • IEC60747-5-5 and IEC 60270-1 Standard compliant
  • Built-in IEC60747-5-5 méthodes de test
  • 3 étapes de la fonction de test de tension
  • Affichage numérique des résultats du test de DP [pC]
  • Réglage de l'occurrence du défaut de DP pour le jugement (1~10)
  • Fonction d'édition graphique
  • Fonction de capture d'écran USB
  • Interface d'exploitation en anglais et en chinois simplifié/chinois traditionnel
  • Standard USB, LAN, RS-232 & ; Interface gestionnaire

Données techniques

Documents et téléchargements

Fiche technique
19501-K
pdf | 1.00 MB
Manuel
19501-K
pdf | 3.46 MB

Description

19501-K | Testeur de décharge partielle pour tester les transistors

Le testeur de décharges partielles Chroma 19501-K combine les fonctions de test Hipot et de détecteur de décharges partielles (DP) en un seul appareil. Le 19501-K convient jusqu'à 10 kV AC avec des mesures de courant de fuite de 0,01 µA à 300 µA et une détection de décharges partielles de 1 pC. Le Chroma 19501-K a été spécialement conçu pour tester les composants semi-conducteurs à haute tension ainsi que les matériaux fortement isolés.

Informations sur le fabricant

Chroma
Chroma

Chroma ATE Inc. développe des solutions de test précises pour des secteurs clés tels que l’électronique de puissance, la technologie des batteries, les véhicules électriques, le photovoltaïque et les semi-conducteurs. Son portefeuille comprend des alimentations hautes performances, des charges et sources électroniques pour AC, DC et AC/DC, des simulateurs de réseau régénératifs, des systèmes de test automatisés, des solutions de mesure basées sur PXI ainsi que des testeurs HiPot et de sécurité.

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