Das DEV-0011 XJDeveloper ist eine integrierte Entwicklungsumgebung zur Entwicklung, Ausführung und Fehlersuche von JTAG-/Boundary-Scan-Tests für elektronische Baugruppen. Die Software unterstützt Entwickler beim Prototypen-Bring-up, bei der Testentwicklung und bei der Vorbereitung von Prüfprojekten für die Serienproduktion.
Das Produkt eignet sich besonders für das Testen von Leiterplatten, die Analyse von Kurzschlüssen und Unterbrechungen, die Wiederverwendung gerätezentrierter Tests sowie für In-System-Programming von Flash-, FPGA- und CPLD-Bausteinen. Abgeschlossene Projekte können für den Einsatz in XJRunner exportiert werden.
Produktmerkmale:
- Integrierte Entwicklungsumgebung für Schaltungstests
- Unterstützung von IEEE 1149.1 und 1149.6
- Advanced Interconnection Test für Kurzschluss- und Unterbrechungsprüfung
- Testen von JTAG- und Nicht-JTAG-Bauteilen
- In-System-Programming für Flash, FPGA und CPLD
- XJEase Hochsprache zur Testbeschreibung
- Integrierte Bibliothek mit zehntausenden Gerätemodellen
- Layout Viewer, Schematic Viewer und Waveform Viewer
- Integrierter XJEase Software-Debugger mit Breakpoints und Variablenansicht
- Test-Coverage-Analyse und Berichtserstellung
- Unterstützung für Varianten, Revisionen und dynamische JTAG-Ketten
- Export von Produktionsprojekten nach XJRunner
- XJRunner-Modul im Lieferumfang enthalten
- Optionale Erweiterungen: XJAnalyser-Modul und XJFlash-Modul