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YIC Technologies EMP-DBT-M | EMProbe Grundgerät, Hauptarm Scanbereich 250 mm und 180°, 3-D Präzisionsscan für Nahfeldsonden

Herstellernummer: EMP-DBT-M

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Highlights Technische Daten Dokumente / Downloads Beschreibung Zubehör

YIC Technologies EMP-DBT-M | EMProbe Grundgerät, Scanbereich 250 mm und 180°, physische Auflösung 0,25 mm für Nahfeldsonden zur EMV- und EMI Diagnose.

Technische Daten

Dokumente und Downloads

Datenblatt
EMP-DBT-M
pdf | 0.53 MB
Schnellstartguide
EMP-DBT-M
pdf | 0.83 MB

Beschreibung

EMP-DBT-M | EMProbe Grundgerät, Hauptarm Scanbereich 250 mm und 180°, 3-D Präzisionsscan für Nahfeldsonden

Mit dem Y.I.C. Technologies EMProbe verwenden Sie tragbare Nahfeldsonden so einfach wie nie zuvor für exakte und wiederholbare EMV- und EMI Diagnosen direkt auf Ihrem Labortisch.

Dank der 3D-Präzisionstechnologie untersuchen Sie Leiterplatten mit schmalen Strukturen oder kleine Fertigprodukte und identifizieren EMV / EMI-Probleme mithilfe einer robotergeführten Nahfeldsonde. Über die EMViewer-Software steuern sie den Roboterarm und die daran befestigte Sonde in jede Richtung oder kombinieren die 3D-Analyse der EMProbe mit den 2D-Ergebnissen der bekannten EMScanner. Ein externer Spektrumanalysator dient zur Messung der Signale, die Visualisierung über nimmt die EMViewer Software.

Für größere Scanbereiche lässt sich die Lösung skalieren. Sprechen Sie uns einfach an.

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Infos zum Hersteller

YIC Technologies
YIC Technologies

Y.I.C. Technologies ist ein führender Anbieter von Echtzeit-EMV/EMI-Prüflösungen und unterstützt Ingenieure dabei, elektromagnetische Störungen frühzeitig zu erkennen und zu beheben. Das Portfolio umfasst EMScanner, EMScannerR, EMProbe, Near Field Probes Kit und RFScanner für Elektronikdesign, Antennenentwicklung, Bildung sowie Forschung und Entwicklung.

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