Das DEV-0010 ist die XJDeveloper-Testentwicklungsumgebung von XJTAG für Boundary-Scan-Tests, PCB-Inbetriebnahme, Fehlersuche und Produktionsvorbereitung.
Die Software unterstützt Entwickler bei der Erstellung, Ausführung und Fehlersuche von Schaltungstests. Sie eignet sich besonders für Prototypen-Bring-up, Testentwicklung, Baugruppenprüfung, In-System-Programmierung sowie die Übergabe fertiger Testprojekte an die Produktion.
Produktmerkmale:
- Integrierte Entwicklungsumgebung für Entwicklung und Ausführung von Leiterplattentests
- Unterstützung für IEEE 1149.1 und 1149.6 Boundary Scan
- Advanced Interconnection Test zur Erkennung von Kurzschlüssen, Unterbrechungen und Bestückungsfehlern
- Funktionalitätsbasierte Tests für JTAG- und Non-JTAG-Bauteile
- Große integrierte XJEase-Bibliothek mit Modellen für zehntausende Standardbauteile
- XJEase-Testbeschreibungssprache mit Debugger, Breakpoints und Variablenprüfung
- Layout Viewer, Schematic Viewer und Waveform Viewer zur visuellen Fehleranalyse
- Test-Coverage-Analyse mit Berichtsfunktion
- Unterstützung von Varianten, Revisionen und dynamischen JTAG-Ketten
- In-System-Programmierung über SVF-, STAPL-Dateien oder XJEase-Skripte
- Export von Projekten nach XJRunner für den Einsatz in der Produktion
- XJRunner-Modul im Lieferumfang enthalten
- Optionale Erweiterungen: XJAnalyser-Modul und XJFlash-Modul