Zur Startseite gehen
  Erst testen, dann kaufen!
  Kostenloser Versand ab 50 € Bestellwert!
  Unsere Veranstaltungen!

#statusMessage#

Möchten Sie den Produktvergleich starten?

Hinweis
Wählen Sie mindestens ein Produkt über die Funktion “Vergleichen” aus, um den Produktvergleich zu aktivieren.
Warenkorb
Warenkorb
& Angebote

NI 789124-01 | NI 9222 Snap-In, Analogeingangsmodul der C-Serie für simultane Abtastung, 4 Kanäle, 500 kS/s, 16 bit, +/-10 V

Herstellernummer: 789124-01

789124-01
789124-01
789124-01
789124-01
7 auf Lager. Versandfertig in 1 Arbeitstag

€ 1.410,00

oder wählen Sie aus folgenden Optionen:
Angebotsanfrage stellen Das Produkt befindet sich bereits im Warenkorb
Downloads zum Produkt Fragen zum Produkt
Highlights Technische Daten Dokumente / Downloads Beschreibung Zubehör

NI 789124-01 | NI 9222 Snap-In, Analogeingangsmodul der C-Serie für simultane Abtastung, 4 Kanäle, 500 kS/s, 16 bit, +/-10 V.

Produktmerkmale:

  • Maximale Anzahl von differenziellen Analogeingangskanälen: 4
  • Schutzbeschichtet: Nein
  • Spannungsmessbereich des Analogeingangs: -10 V bis 10 V
  • Mit Gehäuse: Ja
  • Auflösung des Analogeingangs: 16 bit
  • Maximale Abtastrate: 500 kS/s pro Kanal
  • Isolierung des Analogeingangs: 60 VDC Kanal zu Kanal-Isolierung
  • Maximale Anzahl von massebezogenen Analogeingangskanälen: 0
  • Simultanabtastung: Ja
  • Unterstützte Hardwareplattform: C-Serie

Technische Daten

Dokumente und Downloads

Katalog
PXI-Product-Catalog
pdf | 5.05 MB
Broschüre
781425-01
pdf | 2.78 MB
Übersicht
783863-01
pdf | 0.25 MB
Datenblatt
789124-01
pdf | 0.15 MB

Beschreibung

789124-01 | NI 9222 Snap-In, Analogeingangsmodul der C-Serie für simultane Abtastung, 4 Kanäle, 500 kS/s, 16 bit, +/-10 V

Das NI-9222 dient der differentiellen analogen Erfassung. Das Modul eignet sich für Anwendungen wie Ballistik-, Aufprall- und Druckwellentests. Das NI-9222 kann mit maximaler Sample-Rate pro Kanal abtasten, während das benachbarte Modul im Chassis mit einer deutlich geringeren Rate abtastet. Das Modul eignet sich daher ideal für Prüfsysteme mit gemischten Messungen. Das NI-9222 bietet drei Steckverbinderoptionen: einen 10-poligen Schraubanschluss, einen 25-poligen D-SUB-Anschluss oder einen 2-poligen BNC-Anschluss.

Zubehör

789115-01
NI
789115-01
cDAQ-9173, CompactDAQ-Chassis (USB, 4 Steckplätze)
3 auf Lager. Versandfertig in 1 Arbeitstag
€ 1.090,00
789116-01
NI
789116-01
cDAQ-9170, CompactDAQ-Chassis (USB, 1 Steckplatz)
Nachbestellt - im Zulauf. Lieferzeit auf Anfrage
€ 435,00
789117-01
NI
789117-01
cDAQ-9177, CompactDAQ-Chassis (USB, 8 Steckplätze)
2 auf Lager. Versandfertig in 1 Arbeitstag
€ 1.630,00

Ähnliche Produkte

789125-01
NI
789125-01
NI 9223 Snap-In, Analogeingangsmodul der C-Serie für simultane Abtastung, 4 Kanäle, 1 MS/s, 16 bit, +/-10 V
Lieferzeit auf Anfrage
€ 2.040,00
789127-01
NI
789127-01
NI 9227 Snap-In, Stromeingangsmodul, 4 Kanäle, kanalweise Isolierung, 5 A, 50 kS/s, 24 bit
Lieferzeit auf Anfrage
€ 1.390,00
789128-01
NI
789128-01
NI 9230 Snap-In, IEPE-Analogeingangsmodul, 3 Kanäle, 12,8 kS/s pro Kanal, 24 bit, +/-30 V
2 auf Lager. Versandfertig in 1 Arbeitstag
€ 660,00
789129-01
NI
789129-01
NI 9232 Snap-In, IEPE-Analogeingangsmodul, 3 Kanäle, 102,4 kS/s pro Kanal, 24 bit, +/-30 V
1 auf Lager. Versandfertig in 1 Arbeitstag
€ 1.950,00
789130-01
NI
789130-01
NI 9238 Snap-In, Analogeingangsmodul der C-Serie, 4 Kanäle, 50 kS/s pro Kanal, 24 bit, +/-500 mV
Lieferzeit auf Anfrage
€ 1.380,00
789131-01
NI
789131-01
NI 9269 Snap-In, Spannungsausgangsmodul, 4 Kanäle, kanalweise Isolierung, +/-10 V
Nachbestellt - im Zulauf. Lieferzeit auf Anfrage
€ 1.100,00

Infos zum Hersteller

NI
NI

NI steht für zukunftsweisende Hard- und Softwarelösungen in der Test- und Messtechnik und unterstützt Ingenieure sowie Wissenschaftler in Forschung, Entwicklung und Produktion, etwa in Automotive, Elektronik, Halbleiter sowie Luft- und Raumfahrt. Als Vertriebspartner und einziger Authorized Training Partner in Deutschland bietet dataTec kompetente Beratung, ein breites Sortiment von PXI-Systemen bis LabVIEW sowie hochwertige Schulungen über die dataTec Akademie.

Mehr erfahren

Entdecken Sie unsere Fachbeiträge

TechTalk
Zukunft der Messtechnik: Intelligente Testsysteme mit NI.

Laura Le Cam von dataTec spricht mit Oliver Bruder von NI über aktuelle Herausforderungen und Chancen rund um intelligen...

08.07.25
Lesedauer 4 Min.
78
5
Applikationen & Fachartikel
Flexible Automotive-Testlösungen mit PXI.

Automatisierte Prüfsysteme in Rekordzeit entwickeln. Testingenieure für HF-Hochleistungskomponenten werden mit straffen ...

07.07.25
Lesedauer 4 Min.
38
0

Zuletzt gesehen