Die TEC SourceMeter SMU-Instrumente 2510 und 2510-AT von Keithley erweitern die CW-Testlösung (Continuous Wave) für Hochgeschwindigkeits-LIV-Tests (Licht-Strom-Spannung) von Laserdioden-Modulen, die in faseroptischen Telekommunikationsnetzen zum Einsatz kommen.
SMU 2510 wurde so konzipiert, dass es eine feste (ohne Regelung) Temperaturkontrolle für das zu testende Modul gewährleistet. Es vereint Keithleys Expertise in der Hochgeschwindigkeits-Gleichstromversorgung und -messung mit der Möglichkeit, den Betrieb des Thermoelektrischen Kühlers (TEC bzw. auch Peltier-Element) eines Laserdiodenmoduls hochpräzise zu steuern.
Autotuning-Funktion:
Das Autotuning TEC SourceMeter 2510-AT erweitert die Funktionen des Gerätemodells 2510 durch eine integrierte PID-Regelung für die Temperatur (Proportional-, Integral- und Differentialregelung). Für den Anwender entfällt damit die Notwendigkeit, die optimalen Werte für die entsprechenden Koeffizienten experimentell zu bestimmen. Alle anderen Spezifikationen und Funktionen gelten gleichermaßen für die Geräte 2510 bzw. 2510-AT.
Das SourceMeter-Konzept:
2510 und 2510-AT vereinen eine präzise Spannungs- und Stromquelle und DC-Messfunktionen in einem einzigen Gerät. Das Source-Meter-Konzept führt zu geringeren Anschaffungskosten, weniger Platzbedarf im Rack, zur einfacheren Systemintegration und -programmierung sowie zu einem größeren Dynamikbereich.
Teil eines umfassenden LIV-Testsystems:
Die optische Ausgangsleistung von Halbleiterlasern ist sehr temperaturabhängig. Daher muss die Temperatur des Lasers überwacht und das integrierte Peltierelement (TEC, thermoelektrischer Kühler) geregelt werden, um hochgenaue Messungen durchführen zu können. In einem CW-Laserdioden-Prüfstand kann mit den Modellen 2510 oder 2510-AT die Temperatur aktiv gekühlter optischer Komponenten und Baugruppen, z. B. Laserdiodenmodule, auf ±0,005 °C des benutzerdefinierten Sollwerts geregelt werden. Während des Prüfvorgangs misst das SMU-Instrument die Temperatur des Laserhalbleiters durch einen im Lasermodul integrierten Thermistor. Dieser wird Teil der externen PID-Regelschleife, wodurch der Peltierstrom geregelt wird, um die Laserchip-Temperatur auf dem gewünschten Sollwert zu halten. Das Lasermodul unterstützt unterschiedliche Temperatursensoren.
Anwendungsbeispiele:
- Test von IR-Charge-Coupled-Devices (CCD) und Charge-Injection-Devices (CID)
- Test von aktiv gekühlten Fotodetektoren
- Test von thermisch-optischen Schaltern
- Test von temperaturgesteuerten Vorrichtungen
