Detectus HRE-43/3G | Nahfeldscanner 4D, EMV, hochauflösend, HRE-43 SE 3 GHz, Scanfläche 390 x 290 x 130 mm

Name: HRE-43/3G | Nahfeldscanner 4D, EMV, hochauflösend, HRE-43 SE 3 GHz, Scanfläche 390 x 290 x 130 mm
Brand: Detectus
SKU: HRE-43/3G
Availability: InStock

Herstellernummer: HRE-43/3G

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Detectus HRE-43/3G | HRE 43 High Resolution 4D EMV- / Nahfeld-Scanner, 390 x 290 x 130 mm, 3 GHz.

Genauigkeit: +/- 0,02 mm
Min. Schrittweite: 0,025 mm
inkl. Nahfeldsonden-Set und Vorverstärker bis 3 GHz
IC-Option mit hochauflösender Prüfkamera
Erweiterte Rotationsfunktion der Nahfeldsonde
Messbares Volumen: 390 x 290 x 130 mm
Bewegung in XYZ-Richtung: 390 x 290 x 130 mm
Schnittstellen: Ethernet, Adapter RS-232 oder USB zu RS-232
Gewicht: 125 kg

Technische Daten

Abmessungen (L x B x H) (mm):	810 x 780 x 850
Artikelnummer:	HRE-43/3G
Bandbreite (GHz):	3
Gewicht (kg):	150
Modell:	HRE-43/3G
Scanfläche (X,Y,Z) (mm):	390 x 280 x 130
Scantyp:	3D
Schnittstellen:	RS-232, LAN
min. Schrittweite (mm):	0.025

Dokumente und Downloads

Datenblatt

pdf | 0.85 MB

Beschreibung

HRE-43/3G | Nahfeldscanner 4D, EMV, hochauflösend, HRE-43 SE 3 GHz, Scanfläche 390 x 290 x 130 mm

Die High-Resolution-Serie HRE von Detectus führt EMI-Abtastungen in hochpräzisen Schritten von nur 25 μm durch. Die IC-Option bietet zudem eine hochauflösende Echtzeit-Prüfkamera und spezielle, hochauflösende ICR-Nahfeldsonden. Um das Scannersystem zu vervollständigen, benötigen Sie einen PC und einen Spektrumanalysator.

Die Scanner der HRE4x-Serie sind mit einer erweiterten Rotationsfunktion für Nahfeldsonden ausgestattet. Die Drehung um die Sondenachse stellt sicher, dass alle Feldmaxima trotz unterschiedlicher Empfindlichkeiten der Sonde in verschiedenen Positionierungswinkeln vollständig erfasst werden, seien es Leiterbahnen auf Leiterplatten oder auch Bonddrahte in einem Chip.

Produktmerkmale:

Messung in 4 Dimensionen: X-Y-Z-Achsen und Rotation der Nahfeldsonde zur genauen Erfassung des E-Feldes
IC-Option: mikroskopische Hochauflösung von Sonde und DUT via Kamera (>10 µm/px)
Automatische Sondenkalibrierung via Beacon für reproduzierbare Messergebnisse
3D-Oberflachen-Messung: Import von STL-Dateien zur Berücksichtigung der Bauhöhen eines Prüflings
Multiscan-Messungen ermöglichen Plots für beliebige Frequenzen innerhalb des gemessenen Frequenzbereiches
Inkl. Temperaturmessung
Software-Option für Immunitätsmessungen

Zubehör (1 Produkte)

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Detectus
SUSS

Software SUSS, Updates für 1 Jahr

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Infos zum Hersteller

Detectus

Seit über 20 Jahren entwickelt, produziert und vertreibt das schwedische Unternehmen Detectus weltweit erstklassige EMV Prüfsysteme. In engem Kontakt mit den Kunden, ausgerichtet an den Anforderungen der täglichen EMV Prüfung, entwickelt Detectus so flexible und besonders benutzerfreundliche Prüfgeräte.

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